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產品簡介
X熒光光譜儀
| 1 儀器概述 |
| XTU-50鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型,三重射線防護系統(tǒng);人性化操作界面;*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。 |
| 2 性能優(yōu)勢 |
| 1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即對樣品鍍層膜厚進行精準測試 2.除可對金屬鍍層測試外,還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量,開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術 3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能,大幅提高測量精度 4.業(yè)內提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線 5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設計),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害 6.儀器外部對樣品微調設計,降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性 7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求 8.業(yè)內*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用 9.軟件對多次測試結果進行統(tǒng)計分析功能 10.業(yè)內*家既可以測試鍍層厚度,又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF |
| 2.3 儀器技術指標 |
| 1、儀器尺寸:550(W)x480(D)x470(H)mm 2、樣品腔尺寸:500*360*215mm; 3、低檢測厚度:0.005um 4、檢測厚度上限,50 - 80um(視材料而定) 5、多測試層數(shù):10層 6、小測量面積:0.002mm 7、X熒光光譜儀分辨率:見下面探測系統(tǒng)詳細參數(shù)說明 8、準直器:Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換 9、濾光片:5種濾光片自動切換 10、CCD觀察:260萬像素高清CCD 11、樣品微動范圍:XY50mm 12、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz 13、額定功率:350W 14、重量:約45Kg 15、工作環(huán)境溫度:溫度15—30℃ 16、工作環(huán)境相對濕度:≤85%(不結露) 17、穩(wěn)定性:多次測量重復性誤差小于0.1% |
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