太陽能單晶硅片測厚儀關(guān)鍵詞：單晶硅片測厚儀、單晶硅片厚度檢測儀器、單晶硅片厚度測量儀器、單晶硅片厚度測試儀

濟南辰馳生產(chǎn)的CHY-C2款測厚儀，可用于單晶硅片厚度的檢測，測試分辯率高達0.1微米，*單晶硅片對厚度高精度測試的要求；同時測試幅面寬度可以達到400mm，*單晶硅片整個幅面厚度測試的要求。CHY-C2測厚儀除了具備高精度、高效率等特點外，還采用測量樣品自動前進驅(qū)動系統(tǒng)，大大提高了測試效率，充分滿足用戶連續(xù)高效測試的要求，并配有專業(yè)軟件支持，操作方便、人機交互友好。
1、太陽能單晶硅片測厚儀結(jié)構(gòu)組成
CHY-C2測厚儀主要由控制系統(tǒng)、測量系統(tǒng)、打印輸出系統(tǒng)三部分組成。測量系統(tǒng)對薄膜進行測量，并輸出相應(yīng)電信號；控制系統(tǒng)用以參數(shù)的設(shè)定、修改、傳輸信號的處理、測量結(jié)果的顯示等；打印輸出系統(tǒng)的功能是統(tǒng)計結(jié)果的輸出，打印試驗結(jié)果。
2、太陽能單晶硅片測厚儀功能原理
CHY-C2測厚儀確保測量結(jié)果的高精確性，多次測量結(jié)果的高度*性；且操作調(diào)試極其方便，幾近于自動化操作，限度地減少了人為因素對測量結(jié)果帶來的影響；并具有手動、自動兩種測量模式，對于手動模式測量，可打印輸出測量結(jié)果，對于自動模式測量，可按照預(yù)先設(shè)置好的次數(shù)自動測試，并對測量結(jié)果進行統(tǒng)計、分析、打印輸出；接觸面積、測量壓力、移動速度等嚴(yán)格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。