鍍鋁層均勻度測(cè)試儀|鍍厚度測(cè)厚儀電阻法

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鍍鋁膜在當(dāng)今時(shí)代是應(yīng)用越來越廣泛，主要煙、酒、瓶貼、茶葉、食品、化妝品、日化、百貨、禮品、工藝品等產(chǎn)品的精美包裝，也可用于建筑裝潢材料。我國(guó)鍍鋁紙的市場(chǎng)發(fā)展空間巨大。因此測(cè)試鍍鋁層的厚度越來越受到生產(chǎn)企業(yè)的重視！鍍鋁層厚度測(cè)量：由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此不能用常規(guī)的測(cè)厚儀器檢測(cè)其厚度，常用的檢測(cè)方法有：

一、光密度法光密度（OD）定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測(cè)量。光密度沒有量綱單位，是一個(gè)對(duì)數(shù)值，通常僅對(duì)鍍鋁薄膜和珠光膜進(jìn)行光密度測(cè)量

二、電阻法：電阻法是利用歐姆定律來對(duì)鍍鋁層的厚度進(jìn)行測(cè)量，根據(jù)歐姆定律? R＝ρ×L/S 單位面積鍍鋁薄膜的電阻值越小，其鍍鋁層的厚度越厚，反之則越薄。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T?15717-1995《真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法》對(duì)這一方法進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)定。

三泉中石生產(chǎn)的鍍鋁層均勻度測(cè)試儀|鋁層厚度測(cè)試儀

（電阻法）是根據(jù)《GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》制造而成，采用高精度接觸式測(cè)量，具備溫度補(bǔ)償功能，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，配備的微型打印機(jī)可快速打印出結(jié)果顯示方塊電阻值、厚度值、均勻度等相關(guān)數(shù)據(jù)。滿足各大企業(yè)、質(zhì)監(jiān)所及相關(guān)檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度測(cè)量的需求。

鍍鋁層均勻度測(cè)試儀|鍍厚度測(cè)厚儀電阻法  主要技術(shù)參數(shù)：

厚度測(cè)量范圍：厚度90-570?

方塊電阻測(cè)量范圍：0-20Ω

方塊電阻測(cè)量誤差：±1%

樣品尺寸：100×100mm

夾樣誤差：±0.1mm

測(cè)溫范圍：0～50℃，精度±1℃

外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長(zhǎng)寬高）

重量：19kg

鍍鋁層均勻度測(cè)試儀|鋁層厚度測(cè)試儀（電阻法）是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司自主研發(fā)、生產(chǎn)的重要儀器之一，該儀器的質(zhì)量和穩(wěn)定性得到了廣大客戶的認(rèn)可！