GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合 順序試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

本部分是GB/T 5170的第1部分。

本部分代替GB/T 5170.1－1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》。

本部分與GB/T 5170.1－1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》相比，技術(shù)內(nèi)

容主要有如下變化：

——標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境

    試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則”；

——增加了前言；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；

——刪除了術(shù)語“指示點(diǎn)”；

——修改了“溫度波動(dòng)度”的定義和計(jì)算方法；

——修改了“溫度變化速率”的定義和計(jì)算方法；

——增加了“相對濕度波動(dòng)度”的定義和計(jì)算方法；

——增加了“相對濕度均勻度”的定義和計(jì)算方法；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率”的定義和計(jì)算方法；

——增加了“溫度指示誤差”的定義；

詳情請看附件：