低功率LED可靠性試驗項目：

一般來說，LED 的可靠性是以半衰期（即光輸出量減少到zui初值一半的時間）來表征，大概在1萬到10萬小時之間LED的可靠性測試包括靜電敏感度特性、壽命、環(huán)境特性等指標的測試。靜電敏感度特性是指LED能承受的靜電放電電壓。某些LED由于電阻率較高，且正負電極距離很短，若兩端的靜電電荷累積到一定值時，這一靜電電壓會擊穿PN結，嚴重時可將PN結擊穿導致LED失效，因此必須對LED的靜電敏感度特性進行測試，獲得LED的靜電放電故障臨界電壓。目前一般采用人體模式、機器模式、器件充電模式來類比現(xiàn)實生活中的靜電放電現(xiàn)象。

為了觀察LED在長期連續(xù)使用情況下光性能的變化規(guī)律，需要對LED進行抽樣試驗，通過長期觀察和統(tǒng)計獲得LED壽命參數(shù)。對于LED環(huán)境特性的試驗往往采用模擬LED在應用中遇到的各類自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗、濕度回圈試驗、潮濕試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗、輻照試驗、振動和沖擊試驗、跌落試驗、離心加速度試驗等。一般測試低功率LED的可靠性具體項目有以下幾點：