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LVEM5臺(tái)式透射電子顯微鏡

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  • LVEM5臺(tái)式透射電子顯微鏡

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更新時(shí)間:2021-07-18 21:04:55瀏覽次數(shù):439

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美國(guó)Delong 透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM),小型臺(tái)式多用途電子顯微鏡,透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式,分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)。

詳細(xì)介紹

美國(guó)Delong臺(tái)式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)

詳細(xì)介紹

Delong Instruments 榮譽(yù)出品

• 世界的小型臺(tái)式透射電子顯微鏡(TEM)

• 世界的多用途臺(tái)式電子顯微鏡

• 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式

• 分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)

• Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)焊吡炼?、高?duì)比度

• 觀察生物樣品無(wú)需染色

• 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10,操作維護(hù)簡(jiǎn)單

臺(tái)式設(shè)計(jì):體積小巧,靈活性高,價(jià)格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大,對(duì)放置環(huán)境有著嚴(yán)格的要求,并且需要制冷機(jī)等外置設(shè)備。通常會(huì)占據(jù)整間實(shí)驗(yàn)室。

LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡,尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%,對(duì)放置環(huán)境無(wú)嚴(yán)格要求,無(wú)需任何外置冷卻設(shè)備,可以安裝用戶(hù)所需的任意實(shí)驗(yàn)室或辦公室桌面,是目前的電子顯微鏡。

Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)焊吡炼?高對(duì)比度

電子槍類(lèi)型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用特殊設(shè)計(jì)的倒置肖特基(Schottky)場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)峁└吡炼雀呦喔傻碾娮邮?。電子槍使用壽命可達(dá)2000小時(shí)以上。

傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓,高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù),對(duì)于輕元素樣品(C、N、O樣品,生物樣品)難以獲得好的對(duì)比度,影響圖像質(zhì)量。

LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計(jì),低電壓電子束對(duì)密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度,對(duì)于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對(duì)比度。例如,對(duì)20nm碳膜樣品,5KV電壓下比100KV電壓下對(duì)比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達(dá)到1.5nm。

未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像,與LVEM5下得到的圖像。

LVEM5采用5kV低加速電壓,圖像具有更好的對(duì)比度.

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式


TEM模式

LVEM5是世界上的臺(tái)式透射電子顯微鏡,同時(shí)也是的低加速電壓(5kV)透射電鏡。同傳統(tǒng)透射電鏡(80-200kV)相比,增加了電子束與樣品的相互作用,從而提高了圖像對(duì)比度

。 提高了圖像對(duì)比度

。 無(wú)需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品)

。 避免染色造成的假象,觀察樣品真實(shí)結(jié)構(gòu)

分辨率2nm,放大倍數(shù) 5000-202,000x,圖像采集:2048 x 2048

添加TEM升級(jí)選件,分辨率提升至1.5nm,放大倍數(shù) 50萬(wàn)倍

SEM模式

掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下,LVEM5采用4分割背散射探測(cè)器,提供多個(gè)觀測(cè)角度。

普通掃描電鏡在觀察不導(dǎo)電樣品時(shí),需要對(duì)樣品進(jìn)行噴金、噴碳處理,以增加樣品導(dǎo)電性。LVEM5的另一優(yōu)點(diǎn)在于,無(wú)需噴金可直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品。

分辨率10nm,放大倍數(shù) 640x - 100,000x,圖像采集像素:2048 x 2048

STEM模式

在掃描透射電子顯微(STEM)模式下,電子束被聚焦到很小直徑,在樣品上進(jìn)行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品

ED模式

電子衍射(ED)可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、結(jié)晶度、相組成.

操作簡(jiǎn)單,換樣快捷,成本低廉

LVEM5直觀的用戶(hù)界面、簡(jiǎn)便的控制臺(tái)設(shè)計(jì),使用戶(hù)僅需極少的培訓(xùn),即可輕松操作。讓用戶(hù)在使用時(shí)更加舒適。

不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時(shí)間,LVEM5更換樣品僅需3min,節(jié)省大量時(shí)間。

LVEM5購(gòu)置費(fèi)用遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)電鏡,且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能,真正的物超所值。LVEM5*的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì),在使用中無(wú)需冷卻水,無(wú)需專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室,維持成本極低。

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