美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM）

詳細介紹

Delong Instruments 榮譽出品

• 世界的小型臺式透射電子顯微鏡（TEM）

• 世界的多用途臺式電子顯微鏡

• 透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式

• 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）

• Schottky場發(fā)射電子槍：高亮度、高對比度

• 觀察生物樣品無需染色

• 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10，操作維護簡單

臺式設(shè)計：體積小巧，靈活性高，價格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大，對放置環(huán)境有著嚴格的要求，并且需要制冷機等外置設(shè)備。通常會占據(jù)整間實驗室。

LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡，尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%，對放置環(huán)境無嚴格要求，無需任何外置冷卻設(shè)備，可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面，是目前的電子顯微鏡。

Schottky場發(fā)射電子槍：高亮度/高對比度

電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用特殊設(shè)計的倒置肖特基（Schottky）場發(fā)射電子槍，提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達2000小時以上。

傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓，高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù)，對于輕元素樣品（C、N、O樣品，生物樣品）難以獲得好的對比度，影響圖像質(zhì)量。

LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計，低電壓電子束對密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度，對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度。例如，對20nm碳膜樣品，5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達到1.5nm。

未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像，與LVEM5下得到的圖像。

LVEM5采用5kV低加速電壓，圖像具有更好的對比度.

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式

TEM模式

LVEM5是世界上的臺式透射電子顯微鏡，同時也是的低加速電壓（5kV）透射電鏡。同傳統(tǒng)透射電鏡（80-200kV）相比，增加了電子束與樣品的相互作用，從而提高了圖像對比度

。 提高了圖像對比度

。 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品（如生物樣品）

。 避免染色造成的假象，觀察樣品真實結(jié)構(gòu)

分辨率2nm，放大倍數(shù) 5000-202,000x，圖像采集：2048 x 2048

添加TEM升級選件，分辨率提升至1.5nm，放大倍數(shù) 50萬倍

SEM模式

掃描電鏡（SEM）模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探測器，提供多個觀測角度。

普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時，需要對樣品進行噴金、噴碳處理，以增加樣品導電性。LVEM5的另一優(yōu)點在于，無需噴金可直接觀測不導電樣品。

分辨率10nm，放大倍數(shù) 640x - 100,000x，圖像采集像素：2048 x 2048

STEM模式

在掃描透射電子顯微（STEM）模式下，電子束被聚焦到很小直徑，在樣品上進行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品

ED模式

電子衍射（ED）可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、結(jié)晶度、相組成.

操作簡單，換樣快捷，成本低廉

LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設(shè)計，使用戶僅需極少的培訓，即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。

不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間，LVEM5更換樣品僅需3min，節(jié)省大量時間。

LVEM5購置費用遠低于傳統(tǒng)電鏡，且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能，真正的物超所值。LVEM5*的設(shè)計優(yōu)勢，在使用中無需冷卻水，無需專業(yè)實驗室，維持成本極低。

應(yīng)用案例