單長(zhǎng)脈沖太陽能測(cè)試系統(tǒng)的高效率電池

OAI單脈沖太陽能模擬器和I-V測(cè)試系統(tǒng)是專為高效太陽能電池設(shè)計(jì)的。該測(cè)試系統(tǒng)通過提供高度優(yōu)化的脈沖寬度和電壓掃描速率來克服閃存測(cè)試的限制，以匹配電池的電介質(zhì)響應(yīng)速度。因此，該系統(tǒng)產(chǎn)生太陽能電池效率的非常精確的測(cè)量，導(dǎo)致更準(zhǔn)確的分箱和增加的盈利能力。

單晶Si，多晶Si，HIT和背面接觸型太陽能電池設(shè)計(jì)的進(jìn)展已導(dǎo)致電池電容和電阻增加大于2個(gè)數(shù)量級(jí)。這導(dǎo)致電池的電介質(zhì)響應(yīng)速度的降低。大多數(shù)閃光測(cè)試儀提供極短的脈沖持續(xù)時(shí)間，并且需要快速的電壓掃描速率。通過使用閃光測(cè)試儀測(cè)試太陽能電池，結(jié)果可能產(chǎn)生不一致的填充因子值和較低的電池效率測(cè)量。

高效率電池需要約75-200ms的脈沖寬度和<15V /秒的電壓掃描速率的工作范圍，這為閃存測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確地確定這些*電池的性能造成了重大挑戰(zhàn)。 OAI的新型單脈沖太陽能模擬器和I-V測(cè)試系統(tǒng)克服了這些限制，并為高效太陽能電池提供了非常準(zhǔn)確的測(cè)量。該測(cè)試系統(tǒng)適用于研發(fā)和生產(chǎn)，通過提供優(yōu)化的長(zhǎng)脈沖寬度和電壓掃描速率以及*的算法，解決了高效率和高電容太陽能電池*的測(cè)量挑戰(zhàn)。結(jié)果是I＆V曲線的準(zhǔn)確測(cè)量以及確定太陽能電池的真實(shí)填充因子和效率的能力。