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離子減簿儀 Leica EM RES102 電子顯微鏡 詳細摘要: 使用徠卡 EM RES102,使您的樣品具備的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。*的離子束研磨系統(tǒng)結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和...
產品型號: 所在地: 更新時間:2023-11-18 參考價: 面議 在線留言 -
精研一體機 Leica EM TXP 電子顯微鏡 詳細摘要: LEICA EM TXP是一款*的可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備...
產品型號: 所在地: 更新時間:2023-11-06 參考價: 面議 在線留言 -
三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X 電子顯微鏡 詳細摘要: 幾乎任何材質樣品都可獲得高質量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部最真實結構信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。徠卡EM...
產品型號: 所在地: 更新時間:2023-11-02 參考價: 面議 在線留言
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