上海胤煌科技有限公司
詳細摘要： 梓夢-納米粒度及ZETA電位分析儀顆粒粒度測量動態(tài)光散射(DLS)法原理當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散...
產(chǎn)品型號：ZS930所在地：上海市更新時間：2026-09-20 在線留言
詳細摘要： NanolinkSZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(E...
產(chǎn)品型號：Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀所在地：珠海市更新時間：2026-09-10 在線留言
詳細摘要： 一、產(chǎn)品簡介Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發(fā)的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：所在地：武漢市更新時間：2025-08-12 在線留言
詳細摘要： 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2025-05-15 在線留言
詳細摘要： 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技...
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2024-12-05 在線留言
詳細摘要： 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技...
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2024-12-05 在線留言
詳細摘要： 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技...
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2024-12-05 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS超聲粒度儀，美國MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-04-12 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品參數(shù)1)采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-04-12 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀,可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-04-12 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品參數(shù)ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀ZetaASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-04-12 在線留言
詳細摘要： 型號 Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2簡介 SZ-100V2 只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Z...
產(chǎn)品型號：所在地：杭州市更新時間：2023-12-26 在線留言
詳細摘要： 日本HORIBA nanoPartica SZ-100V2 納米粒度及Zeta電位分析儀 能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2023-11-22 在線留言
詳細摘要： NanolinkSZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(E...
產(chǎn)品型號：Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀所在地：珠海市更新時間：2023-01-28 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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