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泰州新飛光電有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號NS3600
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地國外
聯(lián)系方式：顧經(jīng)理查看聯(lián)系方式
更新時間：2025-06-24 16:42:26瀏覽次數(shù)：1125次
聯(lián)系我時，請告知來自 制藥網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 進口 | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
|---|---|---|---|
| 配備圖像分析系統(tǒng) | 是 | 物鏡 | 10X,20X,50X,100X |
NS-3600是一款高速共聚焦激光掃描顯微鏡（CLSM），可用于精確可靠的3維（3D）測量。 通過快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法可實現(xiàn)實時共聚焦顯微圖像。
這是測量和檢查微觀3D結(jié)構(gòu)有前途的解決方案，例如半導(dǎo)體晶圓，F(xiàn)PD產(chǎn)品，MEMS器件，玻璃基板和材料表面。
Nanoscope Systems NS3600三維激光共聚焦顯微鏡
NS-3600是一款高速共聚焦激光掃描顯微鏡（CLSM），可用于精確可靠的3維（3D）測量。 通過快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法可實現(xiàn)實時共聚焦顯微圖像。
這是測量和檢查微觀3D結(jié)構(gòu)有前途的解決方案，例如半導(dǎo)體晶圓，F(xiàn)PD產(chǎn)品，MEMS器件，玻璃基板和材料表面。
Features & Benefits（性能及優(yōu)勢）：
高分辨無損傷光學(xué)3D測量 自動傾斜補償
實時共焦成像 簡單的數(shù)據(jù)分析模式
多種光學(xué)變焦 雙Z掃描
大范圍拼接 半透明基材的特征檢測
實時CCD明場和共聚焦成像 無樣品準(zhǔn)備
Application field（應(yīng)用領(lǐng)域）：
NS-3600是測量低維材料的有前途的解決方案。
可測量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度，寬度，角度，面積和體積，例如
-半導(dǎo)體:IC圖形，凹凸高度，線圈高度，缺陷檢測，CMP工藝
- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度
- MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形
-玻璃表面:薄膜太陽能電池，太陽能電池紋理，激光圖案
-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析
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