HIOKI日置RM3542A電阻計 RM3542A電阻測試儀

RM3542A于自動設備的電阻計，可測量極小電子元件

產(chǎn)品名稱：RM3542A 電阻計

訂購代碼 GP-IB
RM3542-50 -
RM3542-51 有

產(chǎn)品名稱：RM3542 電阻計

訂購代碼 GP-IB
RM3542 -
RM3542-01 有

產(chǎn)品特點：

● 通過施加電壓限制功能，檢查電壓可以改為5V以下
● 控制沖擊電流的接觸改善功能，支持測量極小元件
● 豐富的測量，確保檢測電壓，實現(xiàn)穩(wěn)定測量
● 縮放功能能夠補償實裝狀態(tài)或檢查階段的偏差

主機不帶治具。由于考慮到要組裝至自動設備中，因此請客戶按照用途自行制作。

外加電壓限制功能能輕松測量極小電子元件（0201尺寸）

通過將測量時的外加電壓限制在5V以下，額定電壓較小的0201尺寸的原件無需外加壓力即可進行測量。

快速、準確的接觸，接觸改善功能

與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態(tài)。通過改善接觸不良實現(xiàn)穩(wěn)定測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提供生產(chǎn)效率。

針對低功率測量的接觸改善功能

進行接觸改善時，通過控制流出測試物中的沖擊電流，可以將接觸改善的使用范圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或0201尺寸的極小電阻檢查中。

使用縮放功能可以補償并測量實際安裝狀態(tài)

通過縮放功能， 實際安裝時和單獨下能夠補償檢查時的電阻值的差異（探測位置的影響等）。在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發(fā)揮作用。

HIOKI日置RM3542A電阻計基本參數(shù)(精度保證時間1年，調(diào)整后精度保證時間1年)

探頭和治具

SMD測試治具IM9100

直接連接型，底部有電極SMD用，DC～8MHz，可測量樣品尺寸：0402～1005（JIS）

測試治具9262

DC～8 MHz, 直接連接型

SMD測試治具9263

直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm

4端子測試探頭 9140

DC～100kHz, 1m長