本儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚......

產(chǎn)品介紹

功能特點(diǎn)：

 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）
?? 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
??具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
??具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
??具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出t; mso-width-alt: 1920" width="60"> 測(cè)頭類型 F 測(cè)量原理 磁感應(yīng) 測(cè)量范圍 0-1250um 低限分辨力 1µm（10um以下為0.1um） 探頭連接方式 一體化 示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)（um） ±[3%H+1] 兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um） ±[（1～3）%H+1] 測(cè)量條件 zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9 基體zui小面積的直徑（mm） ф7 zui小臨界厚度（mm） 0.5 溫濕度 0~40℃ 20%RH～90%RH 統(tǒng)計(jì)功能 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV） 工作方式 直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl） 測(cè)量方式 連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE） 上下限設(shè)置 無 存儲(chǔ)能力 15 個(gè)測(cè)量值 打印/連接計(jì)算機(jī) 可選配打印機(jī)/不能連接電腦 關(guān)機(jī)方式 自動(dòng) 電源 二節(jié)3.6V鎳鎘電池 外形尺寸 150×55.5×23mm 重量 150g

基本配置： 主機(jī) ??標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） ??鐵基體 ??充電器

可選附件：

 TA230打印機(jī)