可程式三槽式冷熱沖擊試驗箱
廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品特點：
 ●設(shè)備分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部份，采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做試驗時自動打開高溫區(qū)與低溫區(qū)的風(fēng)閥從而達到高溫與低溫的沖擊試驗，待測品為不移動之方式。
●采用LCD液晶觸摸屏中英文操作控制系統(tǒng)，操作簡易，可設(shè)定、顯示各種運行數(shù)據(jù)。
●高溫沖擊或低溫沖擊時， 大時間可達999H， 大循環(huán)周期可達9999次。
●系統(tǒng)可作自動循環(huán)或手動性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖、熱沖啟始。
●冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
●具有RS-232通信接口裝置，可與計算機聯(lián)機操控、編輯、記錄及信號點狀態(tài)，使用便捷。
可擴充：
    液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)
溫度自動記錄器
操作記錄軟件

可程式三槽式冷熱沖擊試驗箱

執(zhí)行標準：
    GB11158-2008 高溫試驗條技術(shù)條件
GB10589-2008 低濁試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件（濕度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗A:低溫IEC 6008-2-1:2007
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗B:高溫IEC 6008-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部份：高溫試驗
GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部份：低溫試驗