微電腦高低溫試驗箱是航空、航天、汽車、機電、光電、家電、LED、電工、電子科研等領(lǐng)域*備的檢測試設(shè)備，用于檢測和試驗確定各行各業(yè)各種各類的工業(yè)產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫、高低溫交變或恒定想要做試驗的溫度環(huán)境來檢測過后的變化，確定相關(guān)試驗后的參數(shù)及性能指標(biāo)是否還達(dá)標(biāo)或者正常。

微電腦高低溫試驗箱技術(shù)指標(biāo)：

1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃

2、溫度均勻度：≤±2℃  （空載時）

3、溫度波動度：±0.5℃ （空載時）

4、溫度偏差:≤±2℃

5、降溫速率：0.7～1.2℃/min    

6、升溫速度：1.0～3.0℃/min

7、時間設(shè)定范圍：0～999 小時   

8、噪音：＜75dB

制冷系統(tǒng)及加熱系統(tǒng)：

1、加溫、降溫系統(tǒng)*獨立

2、制冷系統(tǒng)核心部件采用進口密封省電型高效率壓縮機

3、斜率式FIN-TUBE蒸發(fā)器

4、波浪狀鰭片型強迫送風(fēng)冷凝器

5、*口電磁閥：干燥過濾器，膨脹閥等冷凍組件

6、U-TYPE鰭片式高速電熱管

7、內(nèi)螺旋式K-TYPE冷媒銅管

8、升溫速率，非線性空載平均3℃/min, 降溫速率平均1℃/min
滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則