廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)、儀器儀表、電工產(chǎn)品等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
兩箱式?jīng)_擊箱：上面高溫槽、下面低溫槽，測(cè)試槽為提籃，沖擊時(shí)上下移動(dòng)，以瞬間達(dá)到高溫或低溫。溫度變化迅速，不會(huì)進(jìn)行常溫暴露。
三箱式?jīng)_擊箱：上面高溫槽、中間測(cè)試槽、下面低溫槽（有些設(shè)備高低溫槽位置會(huì)有變化）。高溫、低溫槽內(nèi)提前蓄能，試驗(yàn)時(shí)，需要高溫則高溫槽風(fēng)門打開(kāi)與測(cè)試槽形成回路，以瞬間達(dá)到所需溫度，低溫測(cè)試亦是如此。風(fēng)門多為氣動(dòng)控制。測(cè)試品無(wú)需移動(dòng)，便于產(chǎn)品接線于箱外，并能進(jìn)行常溫暴露。