紫外輻照計(jì)-UV-340紫外輻照計(jì)-UV-340介紹
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

紫外輻照計(jì)-UV-340主要性能指標(biāo)
※ 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
※ 輻照度測(cè)量范圍： (0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光： UV340：小于0.05％
※ 余弦特性： 符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)
※ 示值相對(duì)誤差： ±10％
※ 響應(yīng)時(shí)間： 1秒
※ 使用環(huán)境： 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
※ 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 電源：9V積層電池（6F22型）一只