原子力顯微鏡-NanoFirst-2000特點:
　　原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。

計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。

原子力顯微鏡-NanoFirst-2000技術(shù)指標(biāo):
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標(biāo))
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）

原子力顯微鏡-NanoFirst-2000電子學(xué)控制器: