Labthink蘭光推出CHY-CA新改款型測厚儀
在原有CHY-CA測厚儀的基礎上,Labthink蘭光的技術人員針對儀器外形與測量系統(tǒng)進行開發(fā)與改制,推出CHY-CA新改款型測厚儀。
該測厚儀可廣泛應用于單晶硅片、太陽能電池片、銅箔、古籍文獻等材料厚度的測試。測厚儀的測試幅面寬度擴展到了400mm,更大的滿足了是樣檢測的幅面寬度的要求;測試分辯率高達0.1微米,除了具備高精度、寬范圍檢測等特點以外,還采用測量樣品自動前進驅動系統(tǒng),大大提高了檢測效率,充分地滿足了用戶連續(xù)測試的要求,并且配有專業(yè)軟件支持,操作方面,人機交互友好。
如欲了解該款測厚儀詳細信息,請致電濟南蘭光咨詢!
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