日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡標志著計算機斷層掃描 （CT） 系統校準技術的飛躍。它采用的半導體處理技術制作而成，為微焦點 CT 系統提供的分辨率驗證能力。該圖表具有的 T 形圖案，具有 5 種不同尺寸的線條和空間，范圍從 3 到 7 微米不等，可滿足精確校準、對準和維護需求。金 （Au） 被用作吸收材料以增強其實用性。該產品隨附一個儲物盒，以確保其保護，在使用過程中應將其取下?！?/span>

日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡采用的半導體工藝技術，采用金 (Au) 吸收材料開發(fā)了一種新的 CT 分辨率圖，適用于從 3 微米到 7 微米的 5 種不同尺寸的線和空間。這是檢查 Microfocus X 射線 CT 掃描系統

性能的非常有用且的工具，也可用于校準、設置、維護、日常對準等。




 

JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡實物拍攝圖：