散射校正板（Beam Stop Array, BSA）方法是最近幾年提出的一種軟硬件結(jié)合的散射校正方法，以錐束ct的實(shí)際應(yīng)用中取得了良好的效果，受到研究人員的廣泛重視。

為了檢測(cè)到散射射線的強(qiáng)度分布，需要定制一塊散射校正板，校正板是由一個(gè)有機(jī)玻璃板構(gòu)成，有機(jī)玻璃板上均勻分布著同等間隔同等尺寸的氣孔，氣孔由鉛滴填充。將散射校正板平行放置于探測(cè)器前，探測(cè)器上的鉛塊對(duì)應(yīng)的位置上探測(cè)到的光強(qiáng)都是由散射射線產(chǎn)生的，由于散射射線強(qiáng)度空間頻率較低，可以通過(guò)對(duì)相應(yīng)的鉛塊點(diǎn)的像素值 進(jìn)行二維插值，擴(kuò)展到整個(gè)平面，得到散射強(qiáng)度分布圖，從而是應(yīng)用于進(jìn)一步的散射校正。