MicroCT測(cè)試模體,多年來，已經(jīng)提出了許多評(píng)估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點(diǎn)尺寸。這就是為什么許多測(cè)試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實(shí)空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統(tǒng)的機(jī)械精度。與持續(xù)時(shí)間相對(duì)較短的2D測(cè)試相比，所需的時(shí)間穩(wěn)定性要求更為嚴(yán)格。最后，處理和重建算法對(duì)3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。

MicroCT測(cè)試模體,多年來，已經(jīng)提出了許多評(píng)估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點(diǎn)尺寸。這就是為什么許多測(cè)試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實(shí)空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統(tǒng)的機(jī)械精度。與持續(xù)時(shí)間相對(duì)較短的2D測(cè)試相比，所需的時(shí)間穩(wěn)定性要求更為嚴(yán)格。最后，處理和重建算法對(duì)3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。

MicroCT的3D空間分辨率測(cè)試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom

評(píng)估3D空間分辨率的一個(gè)很好的工具是可用德國QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個(gè)放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個(gè)分辨率測(cè)試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺(tái)式高分辨率微CT為例。
   
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測(cè)試對(duì)象（例如鋁銷）的掃描的測(cè)試方法。3D空間分辨率通過調(diào)制傳遞函數(shù)進(jìn)行量化。另外，給出了確定對(duì)比靈敏度的指令。

來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內(nèi)微型CT進(jìn)行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。





QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
柱狀部分：
直徑：5.2 mm
總長(zhǎng)：19.1 mm
材料：致密塑料

芯片部分：
直徑：2.96 mm
總長(zhǎng)：0.66 mm
材料：硅
芯片上圖樣尺寸范圍：1µm至10µm
圖樣深度：5µm至15µm
對(duì)比材料：硅/空氣

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡芯片上有一個(gè)傾斜的邊緣(字母“L"字樣)以及一個(gè)西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結(jié)構(gòu)均以這樣的方式排布于芯片上，從而使用戶僅通過一次曝光和測(cè)量就可以對(duì)整個(gè)芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評(píng)估。
作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展，我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO！

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