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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于建筑材料微觀形貌觀察，幫助分析水泥、混凝土、砂漿等材料結(jié)構(gòu)。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于電池材料微觀形貌分析，幫助觀察顆粒、孔隙、斷面和表面缺陷。

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于鋰電池失效分析中的金屬異物識別和來源判斷。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)療器械涂層觀察，幫助分析涂層表面、截面和界面形貌。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于鋰電池極片形貌觀察，幫助分析正負(fù)極材料表面、涂布層和顆粒分布。

ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識別、成分分析和分類統(tǒng)計。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于導(dǎo)管表面缺陷分析，幫助觀察導(dǎo)管表面顆粒、劃痕和微觀缺陷。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于植入物表面形貌觀察，幫助分析表面粗糙度相關(guān)形貌、涂層和缺陷特征。

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于負(fù)極材料金屬顆粒檢測，幫助識別顆粒形貌和元素組成。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。

掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS）為掩膜版、掩膜版保護(hù)膜以及基板（襯底）制造工藝，提供高通量的表面顆粒污染檢測服務(wù)。該系統(tǒng)對粒徑大于 0.1μm 的...

Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)，專為各行業(yè)產(chǎn)品表面顆粒污染物直接測量而設(shè)計，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域的晶圓、薄膜及光罩檢測，也可用于顯示市...

Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取"采樣技術(shù)的表面污染檢測工具，可通過間接測量方式識別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 ...

Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，...

AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現(xiàn)超高...

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Phenom MAPS 大面積能譜拼接作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集，并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供...

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飛納電鏡全景拼圖【新品】全新界面，一鍵掃描更便捷掃描“形狀"自定義大樣品全景觀測高清圖像無錯位

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