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詳細(xì)摘要： SZ100納米粒度 Zeta電位分析儀廣泛測定樣品濃度范圍通過采用雙重光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

詳細(xì)摘要： EMGA-830氧氮?dú)渎?lián)合測定儀裝備了*的取樣流程裝置，能夠滿足黑色、有色金屬及新材料中不同含量的氧氮?dú)湓氐姆治?。儀器在世界上*采用助熔劑/樣品雙重投料機(jī)構(gòu)，...

詳細(xì)摘要： EMIA-220V2通用碳硫分析儀分析原理：氧氣流中高頻率加熱燃燒-紅外線吸收法分析范圍：碳：4ppm～6 ％（m/m） 硫：4ppm～1 ％（m/m）通過減少...

詳細(xì)摘要： EMIA-320V2高精度碳硫分析儀主要用于鋼鐵、有色金屬、鐵合金、特殊金屬、鐵礦石等樣品當(dāng)中的C、S分析，廣泛應(yīng)用于各煉鋼、有色金屬冶煉、鐵合金、粉未冶金、鑄...

詳細(xì)摘要： EMIA-920V2超低碳硫分析儀主要用于鋼鐵、有色金屬、鐵合金、特殊金屬、鐵礦石等樣品當(dāng)中的C、S分析，廣泛應(yīng)用于各煉鋼、有色金屬冶煉、鐵合金、粉未冶金、鑄造...

詳細(xì)摘要： JOBIN YVON（法國JY）輝光光譜儀能夠?qū)腆w樣品的（包括導(dǎo)電性及非導(dǎo)電性材料）進(jìn)行表面逐層分析，界面分析及樣品整體成分分析，而且具有這些分析所需的高靈敏...

詳細(xì)摘要： LA-950V2激光散射粒度分布儀目前寬的測量范圍：HORIBA革命性的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供了寬的測量范圍（0.01-3000um）,達(dá)到了微小顆粒檢測與大顆粒檢測...

詳細(xì)摘要： ICP SPECTRO ARCOS等離子體發(fā)射光譜儀可廣泛適用于科研、冶金、機(jī)械、石化、環(huán)保、食品、地質(zhì)、生化等愈來愈復(fù)雜的元素分析需求, SPECTRO AR...

詳細(xì)摘要： SPECTRO MAXx全譜直讀光譜儀采用快速讀出系統(tǒng)、特殊設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)、*的ICAL只能邏輯校正系統(tǒng)、高性能CCD檢測器，SPECTROMAXx直讀光譜儀融...

詳細(xì)摘要： SPECTRO xSORT手持式X熒光光譜儀采用高效的激發(fā)源和檢測器，實(shí)現(xiàn)了高精度，快速，安全的現(xiàn)場金屬分析。把實(shí)驗(yàn)室級別的分析結(jié)果和輕松方便的操作方式*地結(jié)合...

詳細(xì)摘要： SPECTRO TEST移動(dòng)式直讀光譜儀具有節(jié)電功能的高效光源保證SPECTROTEST CCD可以選用電池包供電。充電一次可以激發(fā)幾百次。電池可以放在小車中或...