X射線熒光光譜儀的微焦斑X射線光管，即使光斑尺寸小到100µm也可以產生足夠的射線強度，光斑大小取決于所使用的準直器。

采用視頻顯微鏡進行準確定位，可以測量任何想測的位置?？蛇x計算機控制的自動樣品臺，并自動聚焦。
不管您是根據標準來控制樣品的質量，還是測量*未知樣品的組成，XSpect分析軟件都提供了合適的工具：對于塊狀樣品和多層膜樣品，進行有標樣定量和無標樣定量（基本參數法）。點擊一下鼠標就可以自動進行重復測量。

M1 MISTRAL可配兩種不同類型的探測器：大面積的充氣正比計數器，可用于質量控制中的標準應用；或者配置硅漂移探測器，具有超快的檢測速度和非常好的能量分辨率，檢出限可以達到0.01%。*的探測器、數字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結構，確保了X射線探測的大效率，以快速地得到準確的分析結果。

M1 MISTRAL及其軟件的設計，讓操作人員只需經過簡單培訓即可使用。

僅一個電源接口就可以運行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。堅固的結構確保高的穩(wěn)定性，并且*免維護。

X射線熒光光譜儀技術參數

M1 MISTRAL根據所配探測器不同分為二種型號：正比計數器（PC）型和高分辨的硅漂移探測器（SDD）型

                               M1 MISTRAL(PC)                                                                    
激發(fā)源                  高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗                                         
電壓及功率         40 kV, 40 W                                                                                 
探測器                 大面積正比計數器，1100 mm²感應面積                              
光斑尺寸             準直器交換器，0.3 mm或以上                                               
樣品觀察            高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數20-40倍                                
樣品臺                馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦。                                       

                           選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能

定量分析             塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型       

                             鍍層分析：基本參數法模型                                                    
電源：               110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率100 W                         
尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm                                                           
重量                  46 kg    

                         M1 MISTRAL(SDD)

激發(fā)源             高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗

電壓及功率     50 kV, 50 W

探測器             電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器，30 mm²感應面積，對Mn-Ka能量分辨率小于150 eV

光斑尺寸         準直器交換器，0.5 mm或以上

樣品觀察         高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數20-40倍

樣品臺             馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能。

定量分析         塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型

                         鍍層分析：基本參數法模型

電源：             110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率120 W

尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm

重量                50 kg