德國22鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品應用：
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質(zhì)礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

德國22鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品特點：
分辨率： 3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：7—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm    35度接收角
低真空壓力范圍：10—400Pa (LS10:10-3000Pa)
工作室：310mm(φ)×220mm(h)
5軸優(yōu)中心自動樣品臺：X=80mm  Y=100mm  Z=35mm  T=0-90°R=360°
大試樣高度：100mm，大試樣直徑：200mm
系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系統(tǒng)