鎢燈絲掃描電子顯微鏡革命性的Beamsleeve的設(shè)計(jì)，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時(shí)還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動(dòng)控制。標(biāo)準(zhǔn)的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護(hù))成像分析。
產(chǎn)品應(yīng)用:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

產(chǎn)品特點(diǎn)：能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動(dòng)大平臺
快抽真空
未來的保證，可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇

 鎢燈絲掃描電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm     35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)
工作室：365mm(φ)×275mm(h)
5軸優(yōu)中心自動(dòng)樣品臺：X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°
大試樣高度：145mm，大試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系統(tǒng)