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詳細(xì)摘要： MProbe MSP顯微反射膜厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫（超過500材料），新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cau...

詳細(xì)摘要： DEKTAK XT臺階儀是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更...

詳細(xì)摘要： Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。

詳細(xì)摘要： PAINTCHECK便攜式涂層測厚儀可以快速、無損并準(zhǔn)確地測量鋼、鐵、鋁和其它有色金屬的涂層厚度。

詳細(xì)摘要： SURFIX®系列涂層測厚儀用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽極氧化涂層的快速、可靠、精確測量

詳細(xì)摘要： SURFIX涂層測厚儀其性能在于精美的彩色顯示屏，更好的內(nèi)容顯示，并包含多種語言。目前的版本含有英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文。

詳細(xì)摘要： PHYNIX涂層測厚儀被用于許多研究機(jī)構(gòu)和實(shí)驗(yàn)室，例如為了開發(fā)新的涂層和鍍膜方法。高品質(zhì)和高精度是眾多專家對我們設(shè)備的測量精度充滿信心的原因所在。

詳細(xì)摘要： M4 TORNADO微區(qū)X射線熒光光譜儀采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了的分析性能和非常方便的操控性.

詳細(xì)摘要： M2 BLIZZARD大尺寸鍍層測厚儀是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無...

詳細(xì)摘要： M1 ORA微區(qū)X射線熒光光譜儀是專門適用于珠寶行業(yè)的臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀（μ-XRF），結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

詳細(xì)摘要： M1 MISTRAL鍍層測厚儀是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的所有元素...

詳細(xì)摘要： S1 TITAN手持式礦石分析儀是Bruker公司新推出的zui強(qiáng)一代手持式XRF礦石分析儀，它以巨人般的威力，走在檢測技術(shù)的前沿。

詳細(xì)摘要： S1 TITAN手持式熒光光譜儀小巧的設(shè)計(jì)，精準(zhǔn)的測量精度，抵抗惡劣環(huán)境的*能力，更加適合用戶在各種環(huán)境中使用，如高溫、高壓、潮濕，甚至是雨中作業(yè)時(shí)都能確保設(shè)備...

詳細(xì)摘要： TRACER 5i藝術(shù)與考古分析儀i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備，也稱便攜式XRF。是繼原有功能*的Tracer家族系列后, B...

詳細(xì)摘要： S1 TITAN手持式X熒光光譜儀是目前上很輕（1.23kg，測量范圍Mg-U）、基于X射線管技術(shù)的手持式XRF分析儀。

詳細(xì)摘要： CTX便攜儀式XRF分析儀是一種簡單、快速、準(zhǔn)確的檢測儀器，非常適用于在實(shí)驗(yàn)室外檢測固體、粉末和液體。雖然手持式XRF輕便靈活，適合進(jìn)行現(xiàn)場檢測。

詳細(xì)摘要： Q8 MAGELLAN直讀光譜儀 是一款具備*技術(shù)、可靠性、靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀，并樹立了全新標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)摘要： Q4 MOBILE移動火花光譜儀是一款移動光學(xué)直讀光譜儀，適用于金屬分類、PMI、材料分析等所有應(yīng)用領(lǐng)域.

詳細(xì)摘要： Q4 TASMAN直讀光譜儀可為金屬材料分析提供解決方案，它具備佳分析性能、使用方便且費(fèi)用低廉。

詳細(xì)摘要： Q2 ION超輕便型直讀光譜儀Q2可同時(shí)配備多種基體例如鐵、鋁和銅, 能夠很好地滿足中小鑄造企業(yè)，金屬加工企業(yè)，質(zhì)量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業(yè)，甚至檢...