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詳細(xì)摘要： LIBS-Z200手持式激光誘導(dǎo)光譜儀是一款高度便攜性能*的激光誘導(dǎo)光譜儀。LIBS-Z200擁有氬氣微裝置、激光脈沖樣品表面清洗、激光光柵掃描等*技術(shù)，大大提...

詳細(xì)摘要： LIBS-Z300手持式激光誘導(dǎo)光譜儀采用激光光源， Z300充分體現(xiàn)激光技術(shù)在檢測分析領(lǐng)域的*性。作為儀器光源的激光本身具有有單色性好、亮度高、方向性強(qiáng)和相干...

詳細(xì)摘要： GS1000-II型 PMT直讀光譜儀由軟件自動控制真空泵的開啟，保持真空室的氣氛恒定，曲線漂移極小，真空泵的開啟時(shí)間小于全部運(yùn)行時(shí)間的5%，大大延長真空泵的使...

詳細(xì)摘要： AES9000 PMT火花直讀光譜儀采用Paschen – Runge裝置，1米焦距，相對于較短焦距儀器，成像質(zhì)量好、分辨率高，是高性能、高檔次儀器的標(biāo)志。

詳細(xì)摘要： S200 CCD火花直讀光譜儀高性價(jià)比、高可靠性的金屬材料分析人員提供理想解決方案。它是新一代直讀光譜儀;盡管體積小，但能提供非常高的分析性能和的性價(jià)比。

詳細(xì)摘要： OQSN750 BLF真空直讀光譜儀.由軟件自動控制真空泵的開啟，保持真空室的氣氛恒定，曲線漂移極小，真空泵的開啟時(shí)間小于全部運(yùn)行時(shí)間的5%，大大延長真空泵的使...

詳細(xì)摘要： ARTUS 8直讀光譜儀采用帕型-龍格多CCD光學(xué)系統(tǒng)，可分析元素的波長范圍從130nm-170nm,可用于鑄造，來料檢驗(yàn)，質(zhì)量控制，廢品回收等金屬材料及金屬產(chǎn)...

詳細(xì)摘要： V-950電弧火花光譜儀秉承Angstrom公司40年的高品質(zhì)傳統(tǒng)以及數(shù)十年的開發(fā)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，并融合當(dāng)代的流行設(shè)計(jì)理念，是Angstrom公司新推出的光電倍增管專...

詳細(xì)摘要： Genius IF 超級熒光光譜儀為元素分析市場提供一個(gè)較經(jīng)濟(jì)有效的解決方案。這款分析儀能夠進(jìn)行無損的定性定量分析，元素分析范圍從C碳（6）~Fm鐨（100），...

詳細(xì)摘要： X-PMA貴金屬快速檢測儀能夠簡單精確的對小樣品進(jìn)行分析，小低達(dá)1mm目標(biāo)尺寸 。

詳細(xì)摘要： S-MOBILE熒光超低硫分析儀是一款可攜帶至現(xiàn)場操作的小型臺式（便攜式）能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF），這款儀器遵照新嚴(yán)格的硫濃度標(biāo)準(zhǔn)檢測，如ASTM...

詳細(xì)摘要： X-StrataX熒光鍍層測厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

詳細(xì)摘要： COMPACT Eco X熒光鍍層測厚儀是通用的鍍層厚度測試和材料分析儀器，提供目前高的性價(jià)比。

詳細(xì)摘要： Delta DH7000考古分析儀是一款性能出色的手持式考古分析儀，其檢出下限達(dá)到 ppm-*。

詳細(xì)摘要： Axios波長色散X熒光光譜儀包含了一系列基于同一*平臺構(gòu)建的高性能波長色散 X 射線熒光光譜儀 （WDXRF） 該系列包括 Axios 和 AxiosmAX ...

詳細(xì)摘要： ROHS Vision X熒光ROHS分析儀?？焖俣糠治鯮OHS成分，有助于生產(chǎn)商嚴(yán)格遵守電子電器產(chǎn)品環(huán)保規(guī)則。對不同基質(zhì)，不同厚度，不同大小的樣品自動識別基...

詳細(xì)摘要： CLSW-D3 X熒光波長色散測氯儀是SPECTRON公司研發(fā)的一款于分析檢測油品中有機(jī)氯化物含量的波長色散型熒光光譜儀。

詳細(xì)摘要： SWD3 X熒光波長色散測硫儀是SPECTRON公司研發(fā)的一款于分析檢測油品中硫含量的波長色散型熒光光譜儀。

詳細(xì)摘要： X-Calibur X熒光光譜儀 其配置的硅漂移探測器所提供的高能量分辨率使其功能更強(qiáng)，精度更高。

詳細(xì)摘要： P-Metrix移動式X熒光光譜儀是xenemetrix公司新產(chǎn)品，專門設(shè)計(jì)用于現(xiàn)場檢測，并將實(shí)驗(yàn)室級的高品質(zhì)檢測水準(zhǔn)帶至現(xiàn)場分析。滿足工業(yè)現(xiàn)場分析的高要求。