馬爾文 Zetasizer系列 納米粒度電位儀在被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。Zetasizer 系列儀器使用動態(tài)光散射技術(shù)測量自納米級以下至幾微米的顆粒與分子粒度，使用電泳光散射技術(shù)測量電動電勢及電泳遷移率，并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量分子量。 Zetasizer 系統(tǒng)提供了一系列型號，包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。 這兩種系統(tǒng)擁有*的易用性和靈活性，以及*的用戶指導(dǎo)和新穎的測量技術(shù)（例如 MADLS® 和顆粒濃度）。
馬爾文 Zetasizer系列 納米粒度電位儀在被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測量及分子表征。
Zetasizer APS精度zui高的自動化蛋白質(zhì)粒度測量
Zetasizer µV可添加至任何SEC（尺寸排阻色譜）系統(tǒng)的模塊化粒度及分子量檢測器。
Zetasizer WT zata 電位的在線測量 - 控制您的混凝程序!
Zetasizer AT使用動態(tài)光散射在線測量粒度
Zetasizer 系列分為高性能級與標(biāo)準(zhǔn)級兩類系統(tǒng)，包含粒度分析儀、zeta 電位分析儀、分子量分析儀、蛋白質(zhì)遷移率及微觀流變學(xué)測量組合。 對應(yīng)于您應(yīng)用及預(yù)算要求，從粒度小于一納米的顆粒/分子到幾微米的顆粒。此類系統(tǒng)采用動態(tài)光散射法測量粒度及微流變；采用電泳光散射法測量ZETA電位及電泳遷移率；采用靜態(tài)光散射法測量分子量。 此外，該系統(tǒng)還可在流量配置中使用，與GPC/SEC系統(tǒng)連接，作為色譜粒度檢測器使用。
Zetasizer APS將20µL的樣品從各個(gè)孔轉(zhuǎn)移至精密的石英流動池中進(jìn)行測量。 樣品池環(huán)境得到了優(yōu)化，使溫度控制與光學(xué)清晰度更為精確，從而保證了最準(zhǔn)確的測量結(jié)果。 這意味著，可使用任何行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)型一次性或可重復(fù)使用型孔板，而不用擔(dān)心影響測量結(jié)果的孔板透明性或擦痕。
Zetasizer µV是一種高靈敏度雙功能光散射檢測器。 它可作為PALS檢測器與任何GPC/SEC系統(tǒng)配合使用（包括Viscotek），得出粒度信息（通過DLS）和分子量信息（通過SLS）。 另外，在試管模式中，它適合檢測聚集物和通過DLS監(jiān)測聚集物的形成。 Zetasizer µV可通過一個(gè)8µl 的石英流通樣品池和標(biāo)準(zhǔn)色譜管連接至任何GPC/SEC系統(tǒng)和濃度檢測器。 這樣，就可以測量粒度、分子量、聚集與結(jié)合情況（與另一個(gè)濃度檢測器配合使用時(shí)）。在試管模式中，只需從設(shè)備上卸下流動池并插入盛有樣品的標(biāo)準(zhǔn)試管即可批量測量顆粒和分子尺寸（通過DLS）。
Zetasizer WT 將 Malvern Panalytical 行業(yè)*的電泳光散射技術(shù)與二十年內(nèi)累積的在線測量專業(yè)知識相結(jié)合，推出一款在線 zeta 電位分析儀，水處理廠使用。工作不再憑猜測 - 精確而可靠的 [mV] 結(jié)果，提供精準(zhǔn)的投藥控制范圍。在水源水質(zhì)變化引起過濾問題前即對變化作出響應(yīng)！盡量減少化學(xué)品用量，形成穩(wěn)定絮凝。 不再需要過量投藥！
Zetasizer Ultra 綜合了功能zui*的 DLS 與 ELS 系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射 (NIBS®) 和*的多角動態(tài)光散射 (MADLS) 技術(shù)來測量顆粒與分子粒度。 NIBS 的多用性和靈敏度可測量廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關(guān)鍵測量當(dāng)中更精細(xì)地了解樣品粒度分布。MADLS 的擴(kuò)展能夠直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量無需校準(zhǔn)，適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切都使其成為一種理想的篩選技術(shù)。 這是 Zetasizer Ultra 的一項(xiàng)*功能，甚至可以運(yùn)用于以前非常難測量的病毒和 VLP 等樣品。Zetasizer Ultra 還利用 M3-PALS 技術(shù)提供了靈敏度zui高的電動電勢和電泳遷移率測量。 我們具有*性價(jià)比的一次性折疊毛細(xì)管樣品池允許使用我們的zhuan利擴(kuò)散障礙法在極低樣品量的情況下進(jìn)行測量，并且不會產(chǎn)生直接樣品電極接觸。 此類測量提供的信息可以地指出樣品穩(wěn)定性以及/或者聚集傾向。增加的恒流模式可在高導(dǎo)電性介質(zhì)中測量電泳遷移率和電動電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電極極化而出現(xiàn)的錯(cuò)誤。