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納米粒度儀具有*的應(yīng)用
納米粒度儀根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。微小粒子懸浮在液體中受到液體介質(zhì)的分子碰撞會(huì)產(chǎn)生無規(guī)則地布朗運(yùn)動(dòng)，布朗運(yùn)動(dòng)的速度依賴于粒子的大小和介質(zhì)粘度，粒子越小，或介質(zhì)粘度越小，布朗運(yùn)動(dòng)越快。粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致散射光強(qiáng)的波動(dòng)和變化，而這種波動(dòng)和變化的快慢與粒子粒徑有關(guān)。
納米粒度儀為國產(chǎn)納米激光粒度儀零的突破，采用動(dòng)態(tài)光散射原理和自主研發(fā)的CR256數(shù)字相關(guān)器。具有*的信號(hào)處理速度和分辨能力，并能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。光路采用短波長(zhǎng)LD泵浦激光光源和光纖技術(shù)，具有很強(qiáng)的抗*力，從而保證了測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性。適于測(cè)定納米級(jí)顆粒粒度。
納米粒度儀是納米粒徑分析儀器，采用現(xiàn)在*的動(dòng)態(tài)光散射原理，利用Nicomp多峰算法可以很準(zhǔn)確的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品。為實(shí)驗(yàn)室的研究提供好的分析技術(shù)。
納米粒度儀主要特點(diǎn)：
1.經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射法，全范圍米氏理論（Mie Theory）
2.率的雪崩式光電二極管(APD)檢測(cè)器提供了高的靈敏度(高于光電倍增管檢測(cè)器20倍)
3.自動(dòng)調(diào)節(jié)各種樣品的佳設(shè)置
4.在300,000:1的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)節(jié)激光衰減器
5.操作簡(jiǎn)單，無須準(zhǔn)直、校正或保養(yǎng)
6. 全自動(dòng)三元滴定系統(tǒng)（選件）：控制、實(shí)時(shí)測(cè)量pH，鹽濃度和電導(dǎo)率的連續(xù)變化。
納米粒度儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及新的FST技術(shù)的納米粒度儀和zeta電位分析儀，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。納米粒度儀采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，是同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀，可檢測(cè)粒徑從0.1nm到12.30μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。在半導(dǎo)體，醫(yī)藥和食品行業(yè)，陶瓷和顏料工業(yè)，聚合物和化工領(lǐng)域有*的應(yīng)用。
納米粒度儀為國產(chǎn)納米激光粒度儀零的突破，采用動(dòng)態(tài)光散射原理和自主研發(fā)的CR256數(shù)字相關(guān)器。具有*的信號(hào)處理速度和分辨能力，并能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。光路采用短波長(zhǎng)LD泵浦激光光源和光纖技術(shù)，具有很強(qiáng)的抗*力，從而保證了測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性。適于測(cè)定納米級(jí)顆粒粒度。
納米粒度儀是納米粒徑分析儀器，采用現(xiàn)在*的動(dòng)態(tài)光散射原理，利用Nicomp多峰算法可以很準(zhǔn)確的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品。為實(shí)驗(yàn)室的研究提供好的分析技術(shù)。
納米粒度儀主要特點(diǎn)：
1.經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射法，全范圍米氏理論（Mie Theory）
2.率的雪崩式光電二極管(APD)檢測(cè)器提供了高的靈敏度(高于光電倍增管檢測(cè)器20倍)
3.自動(dòng)調(diào)節(jié)各種樣品的佳設(shè)置
4.在300,000:1的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)節(jié)激光衰減器
5.操作簡(jiǎn)單，無須準(zhǔn)直、校正或保養(yǎng)
6. 全自動(dòng)三元滴定系統(tǒng)（選件）：控制、實(shí)時(shí)測(cè)量pH，鹽濃度和電導(dǎo)率的連續(xù)變化。
納米粒度儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及新的FST技術(shù)的納米粒度儀和zeta電位分析儀，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。納米粒度儀采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，是同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀，可檢測(cè)粒徑從0.1nm到12.30μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。在半導(dǎo)體，醫(yī)藥和食品行業(yè)，陶瓷和顏料工業(yè)，聚合物和化工領(lǐng)域有*的應(yīng)用。
