PRINCO料位計
TESTO 875-2 經(jīng)濟型紅外熱像儀—于日常故障排查的熱像儀。

TESTO 875-2 經(jīng)濟型紅外熱像儀—于日常故障排查的熱像儀。
TESTO 全新推出的 TESTO 875-2 紅外熱成像儀是目前市場上性價比高的紅外熱成像儀，高清晰的成像效果，分析軟件，*的售后服務，全面協(xié)助您實現(xiàn)簡單測量。
TESTO 875-2 經(jīng)濟型紅外熱成像儀，熱靈敏度<80mK，具有良好的現(xiàn)場成像及分析功能。

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L2000C射頻導納控制器是生產(chǎn),是在美國普林柯公司射頻導納物位控制器的基礎(chǔ)上,研究和開發(fā)的產(chǎn)品。

L2000C射頻導納控制器是生產(chǎn),是在美國普林柯公司射頻導納物位控制器的基礎(chǔ)上,研究和開發(fā)的產(chǎn)品。
  L2000C射頻導納控制器運用美國普林柯抗粘附線路設計,可以探測真實物位的同時,消除粘附和懸掛在探頭周圍的假物位信號影響。我們還自主采用國外的設計和生產(chǎn)技術(shù),使電子線路參數(shù)更加穩(wěn)定、可靠,使用壽命更加長。

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  L2000C射頻導納料位計的探頭部分通過一系列的市場調(diào)研,研究采用了探頭直徑達到10mm,保護套長150mm,總長450mm,使探頭更堅固、更實用、更可靠。同時,自主開發(fā)L890平板探頭、解決了大固體塊料沖擊探棒的問題,并且,也生產(chǎn)L863WC鋼纜探頭和L864C陶瓷高溫探頭,使L2000C的使用對象從液體、粉料擴展到高溫、大固體塊料。
L2000C射頻導納料位計工作原理
工作原理是基于射頻(RF)電容技術(shù)。將一個無線電頻率施加在探頭上,通過連續(xù)的分析,確定由周圍環(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù),而且其導電率都不同于空氣,當探頭與材料接觸時由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。因為通電的探頭和容器壁構(gòu)成電容器的二塊極板,探頭的絕緣體和周圍空氣成為介電材料,當空氣(其介電常數(shù)為1．o)被任何其它材料價電常數(shù),>1)置換時,電容效應得以加強。從而改變了應用場合的阻抗。即電容值的變化造成了阻抗的變化。這一影響被電路測量后,再與由靈敏度設置(電路)建立的參考基準相比較。靈敏度正確設置會影響傳感器輸出正確變化。探頭的抗粘附電路可以使測量電路對探頭上堆積的物料忽略不計的無線電頻率電位激勵。由于電流不能在相同的電位下流動,抗粘附電路就隔斷了通常從通電的探頭經(jīng)過堆積的物料到容器壁的電流流動。這樣測量到的是通電探頭周圍的物料,而不是粘附堆積的物料。
L2000C射頻導納料位計技術(shù)參數(shù)
繼電器容量：DPDT,額定2A,220Vac或1.5A,28VDC
延時：0-30秒連續(xù)可調(diào)
電源：220Vac或24V/dc
功率：3W
感應度：0．3pF-800pF
物料溫度：-80℃至180℃（大于180℃可用高溫探頭）
電路耐溫：-40℃至66℃
失電保護：高低模式,現(xiàn)場可調(diào)
外殼：IP65,重型鑄鋁外殼
L2000C射頻導納料位計探頭參數(shù)
安裝螺紋：l＂NPT
探頭材料：不銹鋼、Teflon
接液介質(zhì)：不銹鋼
電氣接口：PGll或3／4＂NPT~~PRINCO料位計