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　　納米技術(shù)是一個(gè)快速發(fā)展的新興領(lǐng)域,其發(fā)展和前景也給科學(xué)家和工程師們帶來(lái)了許多巨大的挑戰(zhàn)。納米顆粒正在被應(yīng)用于眾多材料和產(chǎn)品之中,如涂料(用于塑料、玻璃和布料等)、遮光劑、抗菌繃帶和服裝、MRI造影劑、生物醫(yī)學(xué)元素標(biāo)簽和燃料添加劑等等。然而,納米顆粒的元素組成、顆粒數(shù)量、粒徑和粒徑分布的同步快速表征同樣也是難題。對(duì)于無(wú)機(jī)納米顆粒,為滿足上述特點(diǎn)的技術(shù)就是在單顆粒模式下應(yīng)用電感耦合等離子體質(zhì)譜分析法(CP-MS)。使用ICP-MS分析單納米顆粒時(shí),需要采用有別于溶解元素測(cè)量的另一種不同方式。本文介紹了單顆粒CP-MS測(cè)量背后的理論,并通過(guò)溶解態(tài)元素的分析進(jìn)行比較,提出差異。