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廣州市固潤光電科技有限公司>>全自動(dòng)探針臺(tái)>>DSPSemiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)

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  • 型號(hào) DSP
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  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 廣州市

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更新時(shí)間:2024-12-09 09:09:39瀏覽次數(shù):213

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產(chǎn)品簡介

雙面探針系統(tǒng)基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)制造,提供了的靈活性和*功能。DSP解決方案可滿足探針從兩側(cè);探針從頂部,檢測輸出從底部;探針從底部,檢測輸出從頂部的雙側(cè)測試需求。與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同,該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動(dòng)、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級(jí)的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供的解決方案。的模......

詳細(xì)介紹

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)產(chǎn)品描述:

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)制造,提供了的靈活性和*功能。目前,越來越多的應(yīng)用要求能夠從模具或晶片的兩面進(jìn)行探測。SemiProbe的DSP解決方案可滿足以下需求:

  • 探針從兩側(cè)
  • 探針從頂部,檢測輸出從底部
  • 探針從底部,檢測輸出從頂部的雙側(cè)測試需求。

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同,該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動(dòng)、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級(jí)的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供的解決方案。的模塊化設(shè)計(jì)使客戶能夠獲得精確滿足其要求的定制系統(tǒng)。更重要的是,隨著環(huán)境或測試條件的變化,PS4L探針系統(tǒng)可以很容易地進(jìn)行現(xiàn)場升級(jí),以滿足新的需求。與傳統(tǒng)檢測設(shè)備相比,能夠讓客戶節(jié)約更多時(shí)間,更多成本。

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)

雙面探針系統(tǒng)(DSP)的發(fā)展:

雙面探針系統(tǒng)(DSP)最初是用于兩個(gè)應(yīng)用:失效分析和離散設(shè)備。失效分析(FA)的應(yīng)用涉及到發(fā)射顯微鏡,它需要接觸晶圓的頂部或活動(dòng)面,同時(shí)使用增強(qiáng)型或紅外相機(jī)從另一側(cè)成像。晶圓片安裝時(shí)通常背面朝上朝向發(fā)射相機(jī),而上部朝下。這簡化了查找故障位置和確定故障根本原因的過程。包括SemiProbe在內(nèi)的一些公司都有這種應(yīng)用的解決方案。根據(jù)發(fā)射顯微鏡的類型和制造商,探測的一面可以是頂面或底面。

第二種類型的DSP系統(tǒng)用于探測分立大功率器件,包括晶閘管、二極管、整流器、電壓抑制器、功率晶體管和/或IGBT。由于測試這些設(shè)備所用的功率,通過偏置卡盤進(jìn)行普通背面接觸是無法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果的。通過單獨(dú)接觸DUT(被測設(shè)備)的背面,可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。此外,由于這些測試中所使用的功率,通常需要多個(gè)探頭。

隨著半導(dǎo)體行業(yè)不斷努力在降低成本的同時(shí)提高設(shè)備的性能,新技術(shù)正在成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的主流,這些新技術(shù)需要DSP解決方案——MEMS、光電子、硅通孔等等。另一個(gè)新興的DSP應(yīng)用涉及在晶圓上方或下方安裝太陽模擬器頭,以刺激另一面偏壓的裝置。在設(shè)計(jì)工作和表征方面,SemiProbe已開創(chuàng)了一些創(chuàng)新的DSP解決方案來探測這些設(shè)備。

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái) 針尖

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 可靈活改變測試尺寸
  • 支持雙面探針測試
  • 模塊化設(shè)計(jì),可以更換關(guān)鍵部件
  • 結(jié)構(gòu)簡潔,方便操作

應(yīng)用范圍:

  • 光伏工業(yè)
  • 材料科學(xué)
  • 光電行業(yè)
  • 失效分析
  • 通信器件測試
  • 微機(jī)電技術(shù)

Semiprobe雙面探針臺(tái)-雙面量測探針臺(tái)技術(shù)參數(shù):

  • 輸入電壓:110/220V 50/60Hz,20A
  • 空氣:最小流量100psi
  • 真空:23 Hg or -0.8 bar
  • 卡盤X-Y軸軌道:手動(dòng)或編程控制
  • 行程:205*205mm
  • 卡盤Z軸軌道:手動(dòng)或編程控制
  • 行程:可達(dá)20mm
  • θ移動(dòng):手動(dòng)(>30°)或編程控制(±4°)
  • 顯微鏡移動(dòng):手動(dòng)或編程控制
  • 行程:50x50mm-200x200mm
  • 卡盤載體:75mm,100mm,150mm,200mm
  • 部分晶圓片
  • 芯片托盤
  • 壓盤材料:鋁與鍍鎳鋼
  • 光學(xué)元件:
  1. 顯微鏡:大多數(shù)為立體變焦,100x放大倍數(shù)
  2. 底部:數(shù)碼變焦鏡
  3. 相機(jī):兩個(gè)光學(xué)元件都有CCTV相機(jī),通過視頻開關(guān)連接到顯示器上

可選配件:

包括隔振臺(tái)、暗箱、探針卡、操縱器、探測臂和基座、探針,光學(xué)部件,CCTV 系統(tǒng)、其他晶圓片載體等

標(biāo)簽:探針臺(tái)隔振隔振臺(tái)
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