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顯微分光膜厚儀OPTMseries-光學(xué)膜厚儀-光學(xué)膜厚測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： 膜厚儀-Otsuka是一套快速、準(zhǔn)確的顯微分光膜厚測(cè)量?jī)x，通過(guò)測(cè)量顯微區(qū)域的光譜反射率，能夠非常精確地分析薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，非破壞性和非接觸式厚度測(cè)量可以在多...
產(chǎn)品型號(hào)：OPTM 所在地：廣州市 更新時(shí)間：2024-12-07 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言