CMI900（X熒光鍍層測厚儀）
CMI900 是一款性價比*的臺式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U
可同時進(jìn)行多達(dá)15層元素成分分析
測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987

應(yīng)用：
多鍍層金屬厚度測量
合金鑒定及化學(xué)分析
電鍍液分析
金成色分析

特點：
標(biāo)準(zhǔn)50瓦微焦X射線管 X熒光/磁感/渦流測厚儀,靈活運(yùn)用多種分析模型同時分析元素含量和鍍層厚度,實現(xiàn)涂鍍層厚度的精確測試或組成分析
 
計數(shù)率增加，精度提高
可升級75瓦光管
多準(zhǔn)直器
計數(shù)率和光斑尺寸之間的*平衡
鐳射聚焦
改善系統(tǒng)再現(xiàn)性（消除人為干擾）
標(biāo)準(zhǔn)FP軟件包
綜合應(yīng)用模式
簡單校準(zhǔn)
開槽式設(shè)計樣品臺，自動尋找適合所設(shè)定焦距的Z軸坐標(biāo)
提供中文等7種語言界面