詳情一、高低溫濕熱交變老化試驗(yàn)箱適用范圍

該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫及其循環(huán)變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

詳情二、高低溫濕熱交變老化試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～ 100（150）℃
2 、溫度波動(dòng)度： ±0.5℃ 3 、
溫度偏差： ≤2℃ 4 、
升降溫速率：0.7～1℃/min

高低溫濕熱交變老化試驗(yàn)箱高溫高濕檢定箱 

 詳情三、關(guān)于高低溫濕熱交變老化試驗(yàn)箱系列的一些相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)以及試驗(yàn)方法

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

高低溫濕熱交變老化試驗(yàn)箱高溫高濕檢定箱