技術(shù)文章
微處理器芯片測(cè)試裝置chiller的應(yīng)用工況
發(fā)布時(shí)間:2022-11-23微處理器芯片測(cè)試裝置chiller適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品研發(fā)等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制及新產(chǎn)品的研制等。

一、微處理器芯片測(cè)試裝置chiller工作原理:
試驗(yàn)機(jī)輸出氣流將被測(cè)試品罩住,形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔,試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流,使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)。
二、對(duì)比傳統(tǒng)溫箱,微處理器芯片測(cè)試裝置chiller特點(diǎn):
1、高低溫溫度范圍在-85~250°C,控溫精度±0.5°C。
2、采用氣動(dòng)控制,轉(zhuǎn)換時(shí)間短,溫變速度快,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,提高了工作室的溫度均勻性。
3、微處理器芯片測(cè)試裝置chiller升降速率非常快速,升降溫時(shí)間可控,程序化操作、手動(dòng)操作、遠(yuǎn)程控制。
4、超大觸摸屏操作,外觀簡潔大方,操作簡單方便,設(shè)定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示;
5、測(cè)試條件:環(huán)境溫度20°C,10~30m3/h,5~7Bar,干燥壓縮空氣或者氮?dú)狻?/span>
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