技術(shù)文章
高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀工作原理
發(fā)布時(shí)間:2020-8-12 
【適用范圍】
無錫冠亞AES系列高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。
【工作原理】
1、高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住,形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔,試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流,使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn);
2、可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件,將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
【選購(gòu)要點(diǎn)】
選購(gòu)冷熱沖擊試驗(yàn)箱要注意五個(gè)方面:沖擊溫度、試驗(yàn)負(fù)載、復(fù)歸時(shí)間、除霜時(shí)間、放置位置。
沖擊溫度:是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度 范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的溫度;
試驗(yàn)負(fù)載:直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說來,這個(gè)重量越大越好;
復(fù)歸時(shí)間:它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間;
除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好。現(xiàn)在有些廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常適合的。除霜間隔越短說明該設(shè)備的氣密性越差;
sensor必須放置在測(cè)試區(qū)內(nèi)部。有些廠家將sensor放置在風(fēng)道內(nèi)部,雖然與測(cè)試區(qū)只有10cm的距離,但是這個(gè)能量差異是相當(dāng)大的。且不能夠真實(shí)反映測(cè)試品表面的溫度變化。




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