D-30型高精度、低本底放射性測量儀就弱放射性樣品進行測量與分析，被測樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導體探測器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、礦山、環(huán)境監(jiān)測站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗其樣品的總a放射性活度，具有弱放射性測量儀功能。 

技術(shù)參數(shù)
探測器：金硅面壘f30 mm，
儀器本底：≤2cph。
探測效率：≥36%（2π,²³⁹Pu源）
計數(shù)容量：99999999
定時測量：定時時間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
測量范圍: 5×10^-4 Bq/kg--5×10⁶Bq/kg
靈敏度：優(yōu)于5×10^-4 cpm/Bq/kg
穩(wěn)定性：≤5%
準確性：≤±5％
功 耗：: ≤200mW ； ≤600mW
使用條件：溫度 -5℃?50℃ ； 濕度 ≤95%（40℃）
供電電源：6v蓄電池，充電一次可工作12小時