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HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)

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更新時(shí)間：2021-08-02 14:47:21瀏覽次數(shù)：199次

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產(chǎn)品簡介

HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)概述：本HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)是光機(jī)電一體化的*產(chǎn)品，它具有在測試時(shí)壓頭與物鏡自動(dòng)切換，測試點(diǎn)自動(dòng)定位精確

詳細(xì)介紹

HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)

HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)概述：

本HV-50Z自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì)是光機(jī)電一體化的*產(chǎn)品，它具有在測試時(shí)壓頭與物鏡自動(dòng)切換，測試點(diǎn)自動(dòng)定位精確。該機(jī)器造型新穎，有良好的可靠性，可操作性和直觀性，是采用精密機(jī)械技術(shù)和光電技術(shù)的新型維氏和努普硬度測試儀器。

功能特點(diǎn)：

采用計(jì)算機(jī)軟件編程，光學(xué)測量系統(tǒng)。通過軟鍵輸入，可選擇維氏和努氏硬度的測量、能調(diào)節(jié)測量光源的強(qiáng)弱，能選擇保荷時(shí)間，在LCD顯示屏上能顯示試驗(yàn)方法、試驗(yàn)力，通過面板輸入測量壓痕對角線長度、屏幕直接讀出硬度值，簡便了查表的繁瑣。使用方便，測量精度高。

應(yīng)用領(lǐng)域：

用于測定微小、薄形、表面滲鍍層試件的維氏硬度和測定玻璃、陶瓷、瑪瑙、人造寶石等較脆而又硬材料的努普硬度。是科研機(jī)構(gòu)、企業(yè)及質(zhì)檢部門進(jìn)行研究和檢測的理想的硬度測試儀器。

技術(shù)參數(shù)及規(guī)格：

試驗(yàn)力	9.8N(1.0Kgf)、49.0N(5.0Kgf)、98N(10Kgf)、196N(20Kgf)、 294N(30Kgf)、490N(50Kgf)
硬度測試范圍	8HV0.3~2900HV10
試驗(yàn)力施加方法	自動(dòng)加卸試驗(yàn)力
測量顯微鏡放大倍率	200×（測試時(shí)用） 100×（觀察時(shí)）
試驗(yàn)力保荷時(shí)間	0～60s（每秒為一單位，任意鍵入）
最小檢測單位	1μm
試件高度	160mm
壓頭中心到外壁距離	135mm
主機(jī)重量	約40Kg
電源	AC220V/50Hz
外型尺寸（長×寬×高）	(520×190×650)mm

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延伸閱讀：

HV-50A型維氏硬度計(jì)使用注意事項(xiàng)
1、儀器電器元件、開關(guān)、插座安置位置嚴(yán)禁自行拆裝，要是私自拆裝將大概墮落而引發(fā)變亂。
2、本HV-50A型維氏硬度計(jì)試驗(yàn)力正在加載或試驗(yàn)力未卸除的環(huán)境下，嚴(yán)禁移動(dòng)試件，不然會(huì)造成儀器破壞。
3、儀器在丈量狀態(tài)下，請不要施加試驗(yàn)力，如不警惕按“啟動(dòng)"鍵，這時(shí)不克不及去動(dòng)儀器的別的工具，只有等候試驗(yàn)力施加完畢后，才氣可去動(dòng)。
4、金剛石壓頭
1）壓頭和壓頭軸是儀器非常緊張的部門，因此在操縱時(shí)要非常警惕不克不及觸及壓頭。
2）為了包管測試精度，壓頭應(yīng)包管干凈，當(dāng)沾上了油污或塵土?xí)r可用脫脂綿沾上酒精（產(chǎn)業(yè)用），在壓頭處警惕輕擦干凈。
5、測微目鏡
1）由于大家的視差，視察測微目鏡視場內(nèi)的刻線大概含糊，因此視察者換人時(shí)，應(yīng)先微量轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡上的眼罩（10），使視察到視場內(nèi)的刻線清楚。
2）測微目鏡插在目鏡管內(nèi)，要細(xì)致應(yīng)插到底，不克不及留有間隙，不然會(huì)影響到丈量的正確度，當(dāng)丈量壓痕對角線時(shí)，須丈量其一對極點(diǎn)，然后轉(zhuǎn)90再丈量另一對極點(diǎn)。
3）測微目鏡的零位在出廠時(shí)已調(diào)好，如恒久利用大概會(huì)有微量偏差，因此應(yīng)定期校準(zhǔn)零位，如出現(xiàn)偏差時(shí)應(yīng)舉行調(diào)解，調(diào)解要瞄準(zhǔn)目鏡內(nèi)的兩刻線零位（兩刻線無窮靠近，處于有無光隙的臨界狀態(tài)），輕微松開右鼓輪上的三個(gè)止緊螺釘，將右鼓輪的零位也對好，則目鏡內(nèi)的零位與右鼓輪的零位同時(shí)對好。

關(guān)鍵詞：硬度計(jì) 測量顯微鏡

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