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在線式紅外測溫儀JTCIL1250使用說明書熱電阻

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產(chǎn)品型號(hào)JTCIL1250

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更新時(shí)間：2026-06-01 09:51:11瀏覽次數(shù)：290次

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北京金泰科儀檢測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

在線式紅外測溫儀JTCIL1250使用說明書紅外測溫儀JTCIL1250提供兩線制4－20mA電流輸出，可以方便地安裝在多種應(yīng)用場合，特別適合于需要長距離、較強(qiáng)干擾的工業(yè)環(huán)境的安裝。

詳細(xì)介紹

在線式紅外測溫儀JTCIL1250使用說明書

紅外測溫儀JTCIL1250由紅外光學(xué)鏡頭、濾光片、傳感器和電信號(hào)處理單元等組成，能夠探測來自被測量目標(biāo)的紅外輻射，并根據(jù)其輻射強(qiáng)度確定目標(biāo)的溫度。

紅外測溫儀JTCIL1250提供兩線制4－20mA電流輸出，可以方便地安裝在多種應(yīng)用場合，特別適合于需要長距離、較強(qiáng)干擾的工業(yè)環(huán)境的安裝。

紅外測溫儀JTCIL1250采用不銹鋼外殼，在工業(yè)現(xiàn)場具備良好的防護(hù)能力。

提示：使用之前仔細(xì)閱讀此手冊(cè)。**商保留在技術(shù)進(jìn)步時(shí)改變產(chǎn)品參數(shù)的權(quán)利。

技術(shù)指標(biāo)

基本性能

保護(hù) IP65(NEMA-4)

工作溫度 0－60℃

存儲(chǔ)溫度 -20－80℃

相對(duì)濕度 10－90％（不結(jié)露）

外殼材料不銹鋼

電纜長度 1.5m，或定制

電氣參數(shù)

工作電源 12－24VDC

負(fù)載 750歐姆（24VDC）

輸出信號(hào) 4-20mA

測量參數(shù)

光譜范圍 8-14um

溫度范圍 0－1250℃

光學(xué)分辨率 30:1

響應(yīng)時(shí)間 150ms（95％）

測溫精度 ±1％

（環(huán)境溫度：23℃±5℃）

重復(fù)精度 ±0.5%

（環(huán)境溫度：23℃±5℃）

安裝

機(jī)械安裝

JTCIL1250金屬殼體帶M18×1的螺紋，可用于直接安裝，也可通過使用安裝支架進(jìn)行安裝，可調(diào)安裝支架能夠使測量頭的調(diào)節(jié)更加方便。

在調(diào)整被測目標(biāo)與測量頭時(shí)必須確保光路無遮擋。

電器安裝

紅線正端（＋）

藍(lán)色負(fù)端（－）

黑色屏蔽

輸出

輸出電纜可使用帶屏蔽層的雙絞線或多組絞線。導(dǎo)線截面積要求（銅）：

當(dāng)長達(dá)250m時(shí)：0.2mm2截面積

當(dāng)長達(dá)650m時(shí)：0.5mm2截面積

工作原理及注意事項(xiàng)

紅外測溫原理

任何物體都將根據(jù)其表面溫度向外部發(fā)射紅外輻射，輻射的強(qiáng)度隨物體溫度的變化而變化。針對(duì)目標(biāo)溫度的不同，不同的紅外測溫儀選擇不同的的測量波長進(jìn)行溫度測量。通常采用8-14um波長，測量0℃到1250℃的目標(biāo)溫度。非接觸測溫是紅外測溫儀的優(yōu)點(diǎn)，使用戶可以方便地快速測量難以接近或移動(dòng)中的物體，

安裝距離與測量尺寸

JTCIL1250光學(xué)分辨率是30:1，相應(yīng)的測量視場可以參照所附光路圖近似計(jì)算。為提高測量精度，測量時(shí)應(yīng)保證被測目標(biāo)的尺寸大于測量視場，特別是當(dāng)目標(biāo)或測溫儀有晃動(dòng)的現(xiàn)場。

工作環(huán)境

JTCIL1250用將造成測量精度下降知道儀器損壞?？梢赃x擇合適的附件改善工作環(huán)境。

測量通道及鏡頭清潔

應(yīng)保證測量通道的清潔，灰塵、煙塵都會(huì)影響輻射能量的傳遞，降低測量精度。測溫儀光學(xué)鏡頭必須保持清潔，避免因粘有灰塵、煙塵等污染物而導(dǎo)致測量誤差甚至損壞鏡頭，若鏡頭粘有灰塵?？捎们鍧嵉拿藓灮蜱R頭紙蘸*擦拭。

電磁干擾

為了防止電磁干擾，在安裝時(shí)盡量使紅外測溫儀遠(yuǎn)離電磁場源（比如電動(dòng)機(jī)、馬達(dá)、大功率電纜等），如有必要可加金屬套管改善屏蔽效果。

注意：傳感頭的屏蔽應(yīng)良好接地。

高溫輻射

在安裝時(shí)盡量避免紅外測溫儀直接瞄準(zhǔn)遠(yuǎn)超測量溫度范圍的高溫目標(biāo)，如太陽、高溫爐膛等。同時(shí)注意避免高溫源在目標(biāo)附近產(chǎn)生的反射對(duì)測量精度的影響。

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