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全譜直讀光譜儀主要技術參數(shù):項目指標檢測基體鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基、錳基、鉻基等13個基體光學系統(tǒng)帕型-龍格羅蘭圓全譜...
200HRS-150型數(shù)顯洛氏硬度計主要技術參數(shù):200HRS-150型數(shù)顯洛氏硬度計概述: 大型LCD數(shù)顯、菜單操作、試驗過程自動化,優(yōu)化設計的機械結構,磚...
(新功能型)數(shù)字超聲波探傷儀FUT510主要技術參數(shù):(新功能型)數(shù)字超聲波探傷儀FUT510FUT510超聲波探傷儀是一款具有A掃描、B掃描(成像)、自動分析...
HB-3000B型布氏硬度計主要技術參數(shù):杠桿加荷、操作方便、試驗精度穩(wěn)定HB-3000B型布氏硬度計主要特點:●構造堅固、剛性好、精確、可靠、耐用,測試效率高...
JB-300B擺錘式半自動沖擊試驗機主要技術參數(shù):一、產品綜述原理本公司生產的系列沖擊試驗機是嚴格按國標GB/T3808-2007《擺錘式?jīng)_擊試驗機》開發(fā)的產品...
WEW-600B試驗機主要技術參數(shù):簡介主機為四立柱、兩絲杠、油缸下置式,拉伸空間位于主機的上方,壓縮、彎曲試驗空間位于主機下橫梁和工作臺之間
XJP-100型單目倒置金相顯微鏡主要技術參數(shù):儀器關鍵特點描述:XJP-100型單目倒置金相顯微鏡主要特點:XJP-100型單目倒置金相顯微鏡和XJP-200...
XJL-02A型立式金相顯微鏡主要技術參數(shù):儀器關鍵特點描述:XJL-02A型立式金相顯微鏡主要特點:XJL-02A型立式金相顯微鏡光學系統(tǒng)中采用了負焦距(f=...
721型光柵分光光度計主要技術參數(shù):1、波長范圍:350-820nm
金相圖像分析系統(tǒng)主要技術參數(shù):儀器關鍵特點描述:金相圖像分析系統(tǒng)金相圖像分析儀特點:1.無需拍照,即可得到試樣照片,可以即拍即出
721型數(shù)顯分光光度計主要技術參數(shù):1、波長范圍:350-820nm2、波長準確度:±3nm3、波長重復性:<1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光:≤1%
手提式熔煉測溫儀主要技術參數(shù):儀器關鍵特點描述:手提式熔煉測溫儀儀器簡介:手提式熔煉測溫儀是專業(yè)為冶煉、鑄造等行業(yè)熔煉過程快速測量熔融金屬溫度而研制的高精度專用...
722型光柵分光光度計主要技術參數(shù):1、波長范圍:340-820nm2、波長準確度:±2nm3、波長重復性:<1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光:≤0.6%
727型光柵分光光度計主要技術參數(shù):1、波長范圍:330-820nm2、波長準確度:±2nm3、波長重復性:<1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光:≤0.6%
7200型分光光度計主要技術參數(shù):1、波長范圍:330-1000nm2、波長準確度:±2nm3、波長重復性:<1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光:≤0.6%
752型紫外可見光分光光度計主要技術參數(shù):波長范圍:200—820nm波長準確度:±2nm波長重復性:1nm光譜帶寬:4nm雜散光:≤0.5%T(220nm,3...
原子吸收分光光度計主要技術參數(shù):1.工作波段:190-900nm2.波長精度:≤±0.25nm 優(yōu)于國標(國標為±≤0.5nm)3.波長重復性:≤0.15nm ...
KP-8型攜臺兩用式看譜分析儀主要技術參數(shù):可區(qū)分16Mn;20Cr;40Cr;20CrMo;20CrMoTi;20CrNiTi;35CrMo;35CrMoV;...
JSB-1A型三元素分析儀主要技術參數(shù):測量范圍:(以Mn、P、Si為例)Mn:0.01-2.00%、P:0.005-0.80%、Si:0.01-5.00%(若...
JSB-2A型三元素分析儀主要技術參數(shù):測量范圍:(以Mn、P、Si為例)Mn:0.01-2.00%、P:0.005-0.80%、Si:0.01-5.00%(若...
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