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全譜直讀光譜儀主要技術(shù)參數(shù)：項(xiàng)目指標(biāo)檢測(cè)基體鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基、錳基、鉻基等13個(gè)基體光學(xué)系統(tǒng)帕型-龍格羅蘭圓全譜...

200HRS-150型數(shù)顯洛氏硬度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：200HRS-150型數(shù)顯洛氏硬度計(jì)概述：　　大型LCD數(shù)顯、菜單操作、試驗(yàn)過程自動(dòng)化,優(yōu)化設(shè)計(jì)的機(jī)械結(jié)構(gòu)，磚...

（新功能型）數(shù)字超聲波探傷儀FUT510主要技術(shù)參數(shù)：(新功能型）數(shù)字超聲波探傷儀FUT510FUT510超聲波探傷儀是一款具有A掃描、B掃描（成像）、自動(dòng)分析...

HB－3000B型布氏硬度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：杠桿加荷、操作方便、試驗(yàn)精度穩(wěn)定HB－3000B型布氏硬度計(jì)主要特點(diǎn)：●構(gòu)造堅(jiān)固、剛性好、精確、可靠、耐用，測(cè)試效率高...

JB-300B擺錘式半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)機(jī)主要技術(shù)參數(shù)：一、產(chǎn)品綜述原理本公司生產(chǎn)的系列沖擊試驗(yàn)機(jī)是嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)GB/T3808-2007《擺錘式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)》開發(fā)的產(chǎn)品...

WEW-600B試驗(yàn)機(jī)主要技術(shù)參數(shù)：簡(jiǎn)介主機(jī)為四立柱、兩絲杠、油缸下置式，拉伸空間位于主機(jī)的上方，壓縮、彎曲試驗(yàn)空間位于主機(jī)下橫梁和工作臺(tái)之間

XJP-100型單目倒置金相顯微鏡主要技術(shù)參數(shù)：儀器關(guān)鍵特點(diǎn)描述:XJP-100型單目倒置金相顯微鏡主要特點(diǎn)：XJP-100型單目倒置金相顯微鏡和XJP-200...

XJL-02A型立式金相顯微鏡主要技術(shù)參數(shù)：儀器關(guān)鍵特點(diǎn)描述:XJL-02A型立式金相顯微鏡主要特點(diǎn)：XJL-02A型立式金相顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)中采用了負(fù)焦距（f=...

721型光柵分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：350-820nm

金相圖像分析系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)：儀器關(guān)鍵特點(diǎn)描述:金相圖像分析系統(tǒng)金相圖像分析儀特點(diǎn)：1.無需拍照，即可得到試樣照片，可以即拍即出

721型數(shù)顯分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：350-820nm2、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±3nm3、波長(zhǎng)重復(fù)性：＜1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光：≤1%

手提式熔煉測(cè)溫儀主要技術(shù)參數(shù)：儀器關(guān)鍵特點(diǎn)描述:手提式熔煉測(cè)溫儀儀器簡(jiǎn)介：手提式熔煉測(cè)溫儀是專業(yè)為冶煉、鑄造等行業(yè)熔煉過程快速測(cè)量熔融金屬溫度而研制的高精度專用...

722型光柵分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：340-820nm2、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±2nm3、波長(zhǎng)重復(fù)性：＜1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光：≤0.6%

727型光柵分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：330-820nm2、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±2nm3、波長(zhǎng)重復(fù)性：＜1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光：≤0.6%

7200型分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：330-1000nm2、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±2nm3、波長(zhǎng)重復(fù)性：＜1nm4、光譜帶寬:5nm5、雜散光：≤0.6%

752型紫外可見光分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：波長(zhǎng)范圍：200—820nm波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±2nm波長(zhǎng)重復(fù)性：1nm光譜帶寬：4nm雜散光：≤0.5%T(220nm，3...

原子吸收分光光度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)：1.工作波段：190-900nm2.波長(zhǎng)精度：≤±0.25nm　優(yōu)于國(guó)標(biāo)（國(guó)標(biāo)為±≤0.5nm）3.波長(zhǎng)重復(fù)性：≤0.15nm　...

KP-8型攜臺(tái)兩用式看譜分析儀主要技術(shù)參數(shù)：可區(qū)分16Mn;20Cr;40Cr;20CrMo;20CrMoTi;20CrNiTi;35CrMo;35CrMoV;...

JSB-1A型三元素分析儀主要技術(shù)參數(shù)：測(cè)量范圍：(以Mn、P、Si為例)Mn：0.01-2.00%、P：0.005-0.80%、Si：0.01-5.00%(若...

JSB-2A型三元素分析儀主要技術(shù)參數(shù)：測(cè)量范圍：(以Mn、P、Si為例)Mn：0.01-2.00%、P：0.005-0.80%、Si：0.01-5.00%(若...