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粉體學(xué)基礎(chǔ)知識——粒徑和粒度分布

時(shí)間:2022/11/26
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粉體學(xué)基礎(chǔ)知識——粒徑和粒度分布
粉體學(xué)(micromeritics)是研究無數(shù)個(gè)固體粒子集合體的基本性質(zhì)及其應(yīng)用的科學(xué)。通常<100μm的粒子叫“粉”,容易產(chǎn)生粒子間的相互作用而流動性較差;> 100μm的粒子叫“粒”,較難產(chǎn)生粒子間的相互作用而流動性較好。單體粒子叫一級粒子(primary particles);團(tuán)聚粒子叫二級粒子(second particle)。
粉體的物態(tài)特征: 
具有與液體相類似的流動性; 
具有與氣體相類似的壓縮性; 
具有固體的抗變形能力。 
粉體粒子的物理性質(zhì)主要有:粒子與粒度分布、粒子形態(tài)、比表面積等。 

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粒子徑與粒度分布 
粉體的粒子大小也稱粒度,含有粒子大小和粒子分布雙重含義,是粉體的基礎(chǔ)性質(zhì)。 
對于一個(gè)不規(guī)則粒子,其粒子徑的測定方法不同,其物理意義不同,測定值也不同。 
粒徑的表示方法有以下兩種: 
1、幾何學(xué)粒子徑:根據(jù)幾何學(xué)尺寸定義的粒子徑,一般用圖像法測定。 
三軸徑:在粒子的平面投影圖上測定長徑l與短徑b,在投影平面的垂直方向測定粒子的厚度h。反映粒子的實(shí)際尺寸。 
定向徑(投影徑):Feret(Green:定方向接線徑,即一定方向的平行線將粒子的投影面外接時(shí)平行線間的距離。 
Krummbein徑:定方向*大徑,即在一定方向上分割粒子投影面的*大長度。 
Martin徑:定方向等分徑,即一定方向的線將粒子投影面積等份分割時(shí)的長度。 
2、等效粒徑 
等效粒徑的定義:當(dāng)一個(gè)不規(guī)則體粒子的某種物理行為或者物理參量與材質(zhì)相同的某球體相同或者近似時(shí),我們把該球體的直徑稱為為此不規(guī)則粒子的某種等效粒徑。當(dāng)參考的物理行為或者物理參量不同時(shí),測量同一個(gè)不規(guī)則體粒子可能會得到多個(gè)等效粒徑值。 
常見的等效方法有以下幾種: 
光散射等效:光波在傳導(dǎo)過程中遇到障礙物顆粒會發(fā)生偏轉(zhuǎn),光波偏轉(zhuǎn)的角度跟顆粒的粒徑成反比關(guān)系。當(dāng)某顆粒引起的光波偏轉(zhuǎn)量等于某同質(zhì)球體的偏轉(zhuǎn)量時(shí),我們認(rèn)為該球直徑即為該顆粒的光散射等效粒徑。 
Heywood徑:投影面積圓相當(dāng)徑,即與粒子的投影面積相同圓的直徑,常用DH表示。
體積等價(jià)徑(equivalent volume diameter):與粒子的體積相同的球體直徑,也叫球相當(dāng)徑。用庫爾特計(jì)數(shù)器測得。 
沉降速度等效粒徑: 粒徑相當(dāng)于在液相中具有相同沉降速度的球形顆粒的直徑。該粒經(jīng)根據(jù)Stocks方程計(jì)算所得,因此有叫Stocks 徑,記作 DStk. 
比表面積等價(jià)徑(equivalent specific surface diameter):與欲測粒子具有等比表面積的球的直徑,記作DSV。采用透過法、吸附法測得比表面積后計(jì)算求得。這種方法求得的粒徑為平均徑,不能求粒度分布。 
粒度分布 
粒度分布(particles size distribution)表示不同粒徑的粒子群在粉體中所分布的情況,反映粒子大小的均勻程度。簡單的說,粒度分布就是不同大小的顆粒在總體中所占比例的數(shù)值集合。 
粉體的粒度分布表訴方法有列表法、圖示法和函數(shù)法等。 
粒度分布的圖示法又分為頻率分布(微分分布)與累積分布。頻率分布(frequncy size distribution)表示與各個(gè)粒徑相對應(yīng)得粒子在全粒子群中所占的百分?jǐn)?shù)(微分型)。累積分布(cumulative size distribution)表示小于(pass)或大于(on)某粒徑的粒子在全粒子群中所占的百分?jǐn)?shù)(積分型)。百分?jǐn)?shù)的基準(zhǔn)可用個(gè)數(shù)基準(zhǔn)(count basis)、質(zhì)量基準(zhǔn)(mass basis)、面積基準(zhǔn)(surface basis)、體積基準(zhǔn)(volumn basis)、長度基準(zhǔn)(length basis)等表示。 
表示粒度分布時(shí)必須注明測定基準(zhǔn),不同的測定基準(zhǔn),所獲得的粒度分布曲線也不一樣。 
不同基準(zhǔn)的粒度分布理論上可以互相換算。實(shí)際應(yīng)用較多的是質(zhì)量和個(gè)數(shù)基準(zhǔn)分布。 
粒度分布測試 
當(dāng)前主流的粒度分布測試儀有以下幾種:激光粒度儀(光散射等效原理),庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器(小孔電阻等效原理),圖像粒度分析儀(投影面積等效原理),沉降儀(沉降速度Stocks原理)。 
激光粒度儀量程范圍一般可達(dá)0.1-1000微米。且其測量動態(tài)范圍大,是應(yīng)用*普及的粒度儀。 
庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器檢測精度高,量程范圍一般為1-250微米,由于其測量動態(tài)范圍小,測量上限和下限也不足。主要應(yīng)用在樣品為窄分布的粉體行業(yè)。 
圖像粒度分析儀,量程跟配置的顯微鏡性能直接相關(guān)。其同樣存在動態(tài)范圍小,不適合測試寬分布樣品的不足之處。但是它可以進(jìn)行顆粒形貌分析,這一特性是其的。 
沉降儀的性能特點(diǎn)與激光粒度儀近似,但是它在測量速度和量程大小上落后于激光粒度儀,目前在大多數(shù)行業(yè)都被激光粒度儀所取代了。 
(文章來源:網(wǎng)絡(luò)) 

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