計量測試儀: 激光位移傳感器

美國GE超聲波探傷儀探頭如何選擇？

時間：2022/11/23

美國GE超聲波探傷儀探頭如何選擇？

用于測試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量。

G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。

G…K型為
Microdot接頭。適合測量縱波聲速。

SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應(yīng)力。

K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里。例如可以用來確定硬化層的厚度和純度。

Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。

注釋：
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測量的先決條件。參見SD284。

Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。

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