| 上海沃賀電子有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: ACL氧化分析儀,LAwave楊氏模量測(cè)試儀,FMR鐵磁共振儀 |
| 上海沃賀電子有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: ACL氧化分析儀,LAwave楊氏模量測(cè)試儀,FMR鐵磁共振儀 |
暫無(wú)信息 |
| 參考價(jià) | 面議 |
聯(lián)系方式:張毅查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2017-09-17 18:57:34瀏覽次數(shù):1776
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是制藥網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
選配可調(diào)節(jié)泵浦230-22,000nm
多頻率白光持續(xù)探測(cè)
掃描范圍2ns
信噪比<0.2mOD
包含完整OPA
界面直觀
時(shí)間零點(diǎn)探測(cè)
數(shù)據(jù)錄入
兼容NI LabView
白光連續(xù)切斷校正
信號(hào)優(yōu)化在線校準(zhǔn)
參數(shù)
| 泵浦 | 泵浦源 | Palitra-FS |
| 泵浦光譜范圍 | 230-22,000nm | |
| 探測(cè) | 探測(cè)光源 | 白光持續(xù) |
| 探測(cè)光譜范圍 | 450-750nm | |
| 延遲線 | 掃描范圍 | -0.1...1.9ns |
| 時(shí)間分辨 | 3.3fs | |
| 檢測(cè) | 檢測(cè)類型 | Si CCD 光譜儀 |
| 探測(cè)光譜范圍 | 450-750nm | |
| 探測(cè)光譜分辨率 | < | |
| 樣品區(qū) | 樣品空間 | 12.7* |
| 類型 | 透射和反射 | |
| 系統(tǒng) | 達(dá)到時(shí)間S/N<0.2MOD( >10,000:1) | <2秒 |
| 100個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)一次掃描測(cè)量時(shí)間 | <10分鐘 | |
| 時(shí)間分辨 | <200fs | |
| 大小 | 光學(xué)頭(長(zhǎng)*寬*高) | 81.3*52.4* |
| 重量 | | |
| 冷卻 | | 無(wú)需冷卻 |
| 電環(huán)境 | | 100-240VAC;5V@50/6OHZ |
| 控制界面 | 用戶界面 | 軟件 inspect commander |
| 環(huán)境 | 操作溫度范圍 | 25 |
| 相對(duì)濕度 | < 60%,無(wú)冷凝 |
瞬態(tài)吸收光譜儀通過“泵浦”來(lái)激發(fā)分子體系從而探索分子性質(zhì),并且在一個(gè)給定時(shí)間延遲后,通過探測(cè)脈沖了解體系狀態(tài)。
inSpect-TA是一款可調(diào)配zui寬瞬態(tài)測(cè)量范圍的瞬態(tài)光譜儀。靈活的模塊設(shè)計(jì)可以自由選擇“泵浦”和“探測(cè)”脈沖,還可在透射和反射兩個(gè)模式間自由切換。inSpect的緊湊設(shè)計(jì)在保留出色穩(wěn)定性和易操作性的同時(shí),節(jié)省了存放空間。泵浦源為Quantronix Palitra系列的光參數(shù)放大器,其特點(diǎn)為緊湊及寬無(wú)間隙可調(diào)性
探測(cè)是一束連續(xù)白光,通過可再生放大光束的一小部分聚焦在藍(lán)寶板上形成。檢測(cè)是通過切斷泵浦束,記錄連續(xù)探測(cè)源的脈沖對(duì)脈沖差吸光度,此為泵浦和脈沖間的延遲功能。在inSpect Commander 軟件的控制下,
這個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)*自動(dòng)化。軟件和寬帶寬的持續(xù)白光探測(cè)相結(jié)合,記錄不同延遲時(shí)的頻率分辨差異吸收信號(hào),重建測(cè)量的2D時(shí)頻分辨圖像。