| 上海沃賀電子有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: ACL氧化分析儀,LAwave楊氏模量測(cè)試儀,FMR鐵磁共振儀 |
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聯(lián)系方式:張毅查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2017-09-21 16:55:09瀏覽次數(shù):1868
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測(cè)量數(shù)據(jù):
測(cè)量以下材料的彈性模量
硬質(zhì)和超硬模、金屬膜、薄型聚合物膜、低K溶膠膜
大批量材料的彈性模量
膜厚
半導(dǎo)體材料的損傷程度
特點(diǎn):無(wú)損傷檢測(cè)
超硬超薄都能檢測(cè)
檢測(cè)整個(gè)面,并非某個(gè)點(diǎn)
可測(cè)膜范圍廣:從納米到毫米
快速可靠
樣品無(wú)需特殊處理
無(wú)需校正
作用:
薄膜沉積、涂層噴涂及成品材料表面的過(guò)程控制
薄膜和涂層機(jī)械參數(shù)的精確測(cè)量
膜材料上微結(jié)構(gòu)的無(wú)損評(píng)估(如鍵合情況、多孔性和組成)
測(cè)探垂直于表面的彈性和密度梯度