JSM-IT510 InTouchScope™掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可
或缺的。在這些場景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作
效率。 JSM-IT510新增的“簡單 SEM”功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”,
從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
簡單 SEM
只需選擇目標(biāo)視野
“簡單 SEM”支持日常工作
樣品:電子元件
加速電壓:15 kV,放大倍數(shù):×50(上部) ×1,000(下部),信號(hào): BE









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