產(chǎn)品簡介 本系統(tǒng)安裝于真空卷繞鍍膜機內(nèi),相當于安裝在生產(chǎn)線內(nèi)的全自動分光光度計,用于膜層或鍍膜成品的透反射光譜性能監(jiān)測,配置靈活,可選擇多種方式測量,采用橫向多點或縱向不同位置進行透反射光譜測量,配置參考光路,穩(wěn)定性
詳細介紹 本系統(tǒng)安裝于真空卷繞鍍膜機內(nèi),相當于安裝在生產(chǎn)線內(nèi)的全自動分光光度計,用于膜層或鍍膜成品的透反射光譜性能監(jiān)測,配置靈活,可選擇多種方式測量,采用橫向多點或縱向不同位置進行透反射光譜測量,配置參考光路,穩(wěn)定性。便于工藝人員監(jiān)測鍍膜情況,提早調(diào)整工藝參數(shù),節(jié)省成本。 測量對象 薄膜材料 儀器特點 快速實時光譜測量,監(jiān)控膜層變化; 具有特殊設計的參考光路,長時間運行無漂移; 可以選擇測量基材、靶室內(nèi)過程及成品測量; 技術(shù)參數(shù) 技術(shù)指標 技術(shù)指標 1.測量對象:薄膜材料; 2.測量幾何條件:8°/8° ; 3.波長范圍:380~1000nm; 4.波長準確性:≤0.3nm; 5.波長間隔:1nm; 6.波長重復性:0.1nm ; 7.探頭間隙:3~23mm; 8.測量速度:每點每次測量速度≤500ms,每點測量間隔時間不少于1s; 9.測量重復性:重啟儀器或置換光源后,測同一樣品同一點,L*a*b*的波動分別<0.3RMS; 10.測量穩(wěn)定性:同一樣品同一點經(jīng)30次連續(xù)測量,L*a*b*的波動分別<0.3RMS
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