4286A 是 Agilent 的 1 GHz LCR 儀表。LCR 表是一種電子測試設(shè)備，用于測量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表可準(zhǔn)確測量電子設(shè)備上的這些元素，通常是使用交流 (AC) 電壓源的電子設(shè)備。LCR 表測量通過被測設(shè)備的電流和電壓附加的功能:1 MHz至1 GHz，10 kHz步進(jìn)1%基本精度高速測量：15ms帶有APC-3.5測試頭的1 m/3 m電纜Keysight 4286A RF LCR表提供精確、可靠的測量，以便提高電子元器件或電路設(shè)計的質(zhì)量和性能。與反射測量技術(shù)不同，Keysight 4,286A使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。而且，由于的校準(zhǔn)技術(shù)（典型的Q精度：6% @ 100 MHz，Q=100），還可以極大地改進(jìn)Q測量。因此，通過在射頻范圍內(nèi)測量設(shè)備的真實阻抗值，您將能夠顯著降低設(shè)計的不確定度。4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4286A的測量非?？?。此外，在小測試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。系統(tǒng)組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。便于使用8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4286所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具