當前位置：上海蔡康光學儀器有限公司>>原位冷熱臺熔點儀>> CKL150-30半導體冷熱臺熔點儀
| 產地 | 國產 | 產品新舊 | 全新 |
|---|---|---|---|
| 電源 | 220 | 電源電壓 | 220 |
| 分類 | 數字熔點儀 | 功率 | 75 |
| 熔點測量范圍 | -30~150℃ | 自動化程度 | 手動 |
一、儀器用途：
蔡康半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現從-30~150℃（選型）的控溫?？梢詫崿F變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。
產品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機控溫軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進行定制化編程。
二、儀器特點：
•溫度范圍：-30~150℃
•溫度穩(wěn)定性：±0.1℃
•支持反射/透射模式
•氣密腔室，可通保護氣體
•腔室可升級真空腔室（10^(-3) mbar）
•上位機軟件控制
•支持加探針
•支持改動或定制
三、儀器主要技術參數
型號 | CKL120-30 | CKL150-30 |
制冷方式 | 半導體 | |
溫控范圍 | -30~120℃ | 30~150℃ |
溫度精度 | ±0.1 | |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
加熱速率 | 50℃/min | |
冷卻速率 | -40℃/min | |
樣品臺材質 | 鋁合金 | |
樣品臺大小 | Φ16mm | |
振幅 | ≤2μm | |
通光孔直徑 | Φ2mm | |
正面觀察窗大小 | Φ18mm | |
物鏡工作距離 | 3.5mm | |
X、Y軸移動距離 | ±6mm | |
位移分辨率 | 0.01mm | |
外觀尺寸 | 140×95×20mm* | |
腔體凈重 | 1kg | |
四、光學冷熱臺應用案例：
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